矿产勘查岩心扫描

岩心的非破坏性元素和矿物测井提供了客观的高分辨率分析数据，以确定甜点、矿化和蚀变。Bruker便携式和手持式分析仪用于在野外或岩芯库收集深度注册的地球化学和矿物数据。这一数据的高分辨率特性意味着即使很小的矿化或蚀变远景区也可以在不稀释的情况下被识别出来，从而提高了对矿石系统的远端识别。现场收集的数据提供了近乎瞬时的地球化学，可用于:

• 客观、快速地鉴定矿物和矿物组合
• 确定主要目标和指标要素的趋势
• 根据矿化或蚀变圈定靶区
• 地球化学参考核心提高与其他孔的相关性
• 实时指导钻井方案，优化钻孔位置，减少寻找和充分表征矿床所需的钻孔数量
• 高分辨率初步等级识别，减少了向测定实验室发送的样品的贫瘠数量
  

岩心中主要、次要和微量元素空间分布的可视化，为了解矿化和蚀变过程提供了依据。Micro-XRF提供分辨率小于20µm的大样本地球化学填图，可以将地质过程框架内的特征上下文化。在微x射线荧光光谱中加入自动化矿物学是一个新兴的领域，有望增加快速和可重复的岩石学表征的新维度。布鲁克的核心分析M4龙卷风可以在现场或核心小屋中为快速数据收集设置一系列仪器：

• 最小制备表面的样品材料的快速扫描，不需要样品涂层或抛光
• 实现基于数据的方法来选择采样位置，以便需要更昂贵的样品制备方法
• 矿化和蚀变的快速评价以约束概念勘探模型的近实时迭代
• 通过在可比尺度上测量元素浓度，为高光谱技术提供“地面真相”和补充数据

许多矿化过程留在微米级的记录。扫描电子显微镜（SEM）表征是最准确的方法可在此规模上可视化和分析过程。Bruker自动化的自动化矿物学和大型区域元素映射解决方案EDSx射线成像与后向散射选举(BSE)成像，提供详细的分析分辨率到~1µm。点击这里了解更多关于岩石特性的勘探与微观分析。

岩石的传统矿物分析意见2D的3D世界。光学显微镜，SEM和Micro-XRF中的薄截面和芯板的分析均需要从单个平面推外的外推理解3D对象。高分辨率3D X射线显微镜研究核心允许对第三维的非破坏性观察。布鲁克的SKYSCAN系列x射线显微镜与其他方法一起工作，产生关于地质特征的形状、大小和相互关系的详细信息。当与扫描电镜或微x射线荧光光谱的自动化矿物学相结合时，就有可能开发出微米级矿石分布的全面综合模型，更好地定义矿化过程，预测粉碎和其他加工行为。