布鲁克三维x射线显微镜(XRM)结合了微型计算机断层扫描(micro-ct)硬件和专门的软件,形成了一个完整的显微可视化解决方案。从微分辨率台式机到纳米分辨率地面站立仪器,布鲁克XRM解决方案提供了易用性和功率的完美平衡。
从测量地质样品的孔隙度到制药片上的多种涂层的厚度或电路的片上和板级互连结构,XRM允许快速多尺度分析。XRM的非破坏性特性允许组件完整性验证,将制造技术(如增材制造)的质量控制提升到一个新的水平。
布鲁克的软件为技术人员和新手研究人员提供了简单的按钮界面,并为寻求推动他们的样本和技术边界的专家提供了特殊的深度。重建是由最新的GPU驱动的算法完成的,在一小部分时间内从大数据集提供结果。所包含的分析包允许定性可视化和定量回归。
规范 |
SKYSCAN 1275 |
1272年SKYSCAN互补金属氧化物半导体 |
SKYSCAN 1273 |
SKYSCAN 2214 |
外形尺寸(w x d x h, mm) |
尺寸:1040 x 665 x 400 |
尺寸:1160 x 520 x 330 |
1250 x 820 x 815 |
尺寸:1800 x 950 x 1680 |
重量(不含可选电子产品) |
170公斤 |
150公斤 |
400公斤 |
1500公斤 |
源 |
40 - 100千伏 |
40 - 100千伏 |
40 - 130千伏 |
20 - 160千伏 |
探测器 |
3mp平板 |
11议员CCD 16像素CCD 16像素CMOS |
6mp平板 |
6mp平板 11mp大型CCD 11mp中位CCD 8mp高分辨率CCD |
最大样本量(直径、高度) |
96毫米,120毫米 |
75毫米,80毫米 |
300mm, 500mm |
300mm, 400mm |
最小分辨率(体素,空间) |
<4µm, <8µm |
<0.45µm、<5µm |
<3µm, <6µm |
60 nm, <500 nm |
测量、重构和分析软件 |
包括 |
包括 |
包括 |
包括 |