微XRF光谱仪

M4龙卷风amics.

微XRF的自动矿物学系统

自动化数据收集和矿物匹配

Micro-XRF唯一的自动矿物学解决方案

M4 Tornado Amics自动矿物学系统用于μ-XRF

强调

16x19
厘米
测量区域
适用于钻芯或吊钩岩石 - 在M4龙卷风的大型低真空样品室中不需要分析抛光或涂层
<20
μm.
斑点大小
在大多数地质问题所需的分辨率下映射主要,次要和跟踪元素和矿物质
> 1340.
数据库中的矿物质
AMICS预装了用户可扩展的矿物数据库,并使用本数据库的整个频谱匹配未知数

微XRF数据集中的自动化和相位识别

M4龙卷风AMICS是一种采用X射线激励自动矿物质的一种创新的新方法,以收集矿物匹配的能谱。该包符合超快速高分辨率元素分配分析分析M4龙卷风以及AMICS软件的自动化和相位分类技术。

  • M4龙卷风AMICS具有一个大型样品室,可在低大气压下操作,只需要平坦的表面,没有特殊涂层或抛光。适用于铺设岩石芯,手样板和薄截面坯料,甚至是未抛光的谷物安装架。
  • 通过各种样品架和定制测量区域快速自动化重复测量。
  • 分析整个样本以识别矿物学或阶段,表征纹理和关联,将统计计算和报告结果应用为地图,图表和图形。
  • 创新的频谱树使用户能够对包括复杂固体解决方案,边界和混合阶段的未知阶段进行分类。

好处

Micro-XRF如何适合我的矿物学和纹理表征工作流程?

将M4 Tornado Amics集成到任何工作流程中,以添加来自任何准备或未准备的样品的地球化学和矿物地图 - 钻芯,手样品,坯料,薄段和粒状安装。这种创新和强大的仪器在纹理和元素框架内捕获了矿物信息。

  • 优异的微量元素检测限度和快速测量时间产生<20μm分辨率相位图,其赋予迅速决策和击退的样本,以便通过amics SEM或需要较小制备样品的其他技术进行进一步分析。
  • M4 Tornado Amics非常适合使用大型矿物颗粒如粗晶颗粒或重型矿物砂,在破碎之前进行快速分析,消除了造型的造型背景
  • 强大的M4龙卷风仪器可以向前部署到全球的现场位置;它易于使用,自包含,没有耗材。配备M4龙卷风AMICS并结合紧凑的SEM和现场 - 适当的样品制备工具,它可以为快速战术决策提供完整的现场岩性和纹理分析解决方案。

应用程序

你的分析挑战是什么?

矿产勘探

钻孔岩石型,矿物质和纹理分析

M4龙卷风AMICS成为核心特征工作流程中的关键工具,通过捕获并保留核心被粉碎和擦拭时损失的矿物和纹理信息。这种原始的矿物质和纹理信息和额外的地球化学源于它,可用于表征矿体几何形状,并在勘探环境中开发矿石的载体。空间解决的矿物数据允许传统散装地球化学和XRD分析的上下文化,并且当与元素映射相结合时,M4 Torando AMICS提供了开发强大的勘探模型的关键信息。
工业矿物质

重型矿物砂分析

重型矿物砂是锆,钛,钨和稀土元素的重要来源。M4 Tornado Amics是一种独特的解决方案,可以快速评估勘探目标和生产的莫代尔矿物学。可以用最小的样品制备分析样品,用尺寸类和矿物排序。M4龙卷风易于使用,可靠近生产设施安装,从而快速数据生产,以实现极其快速的战术决策。
岩石学和地球化学

空间解决矿物学和微量元素地球化学

M4 Tornado AMICS使大多数地质样品的定量模态矿物和纹理表征能够进行微XRF。映射大面积的能力迅速允许完全采样分析有限的偏差,为结果提供充分的置信度。使用元素数据和矿物地图作为用于更明智的SEM EDS分析的样本选择的工具。在大型样品中靶向低丰度矿物,以减少EMP和LA-ICP-MS进一步样本表征和分析的时间和成本。

规格

技术细节

<20μmXRF点 用于聚焦光束XRF分析的多毛细管X射线焦点 光谱树

BSE和能谱标准的光谱分类和分类

C到AM M4龙卷风加上的量化范围。在PPM检测限度下覆盖大部分周期表。 综合矿物数据库

具有超过1300个矿物阶段和软件的数据库,用于收集和管理自定义阶段

全频谱整个列表(FSWL)匹配 使用整个能量分散频谱对整个矿物名单的光谱匹配 数据收集自动化

自动化M4龙卷风和M4龙卷风加上的数据收集,包括快速释放样品架和定制测量区域

配件

SEM-EDS的AMICS

M4 Tornado Amics是Bruker创新自动化矿物学的一部分,提供来自Micro-XRF和Sem-EDS的矿物数据。SEM-EDS的AMICS将高分辨率BSE带入高吞吐量EDS,用于自动矿物解决方案,可自动采集和分析来自扫描电子显微镜的数据。AMICS是下一代特征工具,用于包含创新成像和分析的样本的详细和定量分析。