Micro-XRF光谱仪

M4龙卷风

固体,层,颗粒和液体的元素分析

可根据您的需求配置

最终的速度和准确性

M4龙卷风µ-XRF布鲁克元素分析固体,层,颗粒和液体

强调

<20
µm
斑点大小
聚焦X射线束与多毛细管镜头
1
小姐
每个像素的最小停留时间
与舞台的映射高达100 mm/s
12
可选的层
可以使用可选的Xmethod软件包分析多层系统

高性能微型XRF具有市场领先的速度和灵活性

M4龙卷风是使用小点微X射线荧光进行样品表征的选择工具。它的测量值提供了有关组成和元素分布的信息,即使从表面下方也是如此。Bruker的Micro-XRF光谱仪已优化,用于对任何样品的点,线和2D区域扫描(元素映射)的高速分析;无论是有机,无机还是液体。

主X射线激发使用多毛细管镜头,可提供小斑点尺寸和高X射线强度。M4龙卷风可与各种布鲁克Xflash配置®硅漂移探测器(SDD),提供高吞吐量,而不会损害能量分辨率。

M4龙卷风的出色配置选项之一是额外的X射线管,该X射线管提供了不同的目标材料和用于扩展分析功能的准直仪更换器。

进一步的最新配置选项:

  • 在室内保持大气压力的同时,可以提高光线元素的性能
  • 快速交换阶段和一个薄片和钻头的地理样本持有人包装
  • 用于标准支持和完全标准的定量以及层厚度计算的Xmethod软件
  • Amics软件自动矿物分析

好处

M4龙卷风如何支持您的分析?

减少测量时间。优化的X射线激发路径,高通量探测器,像素时间降至1 ms的“直接”映射。

测量最大7公斤的样品。大型真空室,可自由调节,恒定真空降低至2 MBAR,自动氦或氮冲洗以保护样品。

绘制最大190 x 160mm²的区域。记录高达40 mio。像素在一项运行中,数据存储为超图,并具有完整的光谱信息,每个像素的光学图像。

量化光谱,线c和映射。可配置的基本参数方法,用于图层或基于标准的量化的可选Xmethod软件包,映射的层分析。

处理您的数据。功能强大的软件包,提取任意对象总和光谱(椭圆,矩形,多边形),线扫描的提取,仅在单个测量位置(Maximumpixelspectrum),化学相分析(自噬过程)的元素的测定。

扩展您的功能。从广泛的配置中获利以符合您的分析需求。

发现广泛的MICO-XRF样品

申请

植物分析

解决植物中矿物营养稳态的难题

布鲁克的M4龙卷风微XRF光谱仪在研究替代剪接(AS)机制的作用中起着重要的作用,这些机制似乎在植物对环境压力的反应中起作用。研究科学家使用M4龙卷风来帮助了解植物用来承受缺乏或过量矿物营养素的自适应策略。反过来,这有助于确定具有较高矿物营养效率的农作物的方法。

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