矿物勘探的岩心扫描

岩心的非破坏性元素和矿物测井提供了客观的高分辨率分析数据，以识别甜点、矿化和蚀变。布鲁克便携式和手持式分析仪用于在野外或岩心棚内收集深度记录的地球化学和矿物学数据。这些数据的高分辨率意味着即使是很小的矿化或蚀变带也可以在不稀释的情况下识别出来，从而提高了矿石系统的远端识别能力。野外数据收集提供了近乎瞬时的地球化学，可用于:

• 目的快速鉴别矿物及矿物组合
• 确定主要目标和指标要素的趋势
• 根据矿化或蚀变圈定目标区
• 岩芯的地球化学参考提高了与其他钻孔的相关性
• 实时指导钻井程序，优化钻孔布置，减少发现和充分描述矿床所需的钻孔数量
• 高分辨率初步品位鉴定，减少送往分析实验室的贫瘠样品数量
  

岩芯中主要、次要和微量元素的空间分布可视化有助于理解矿化和蚀变过程。Micro XRF提供分辨率小于20µm的大样本地球化学制图，可在地质过程框架内对特征进行上下文分析。将自动矿物学添加到micro XRF是一个新兴领域，有望增加快速和可重复的岩石学表征的新维度。用于岩芯分析的Bruker'sM4龙卷风可在现场或堆芯棚内设置一系列仪器以快速收集数据：

• 快速扫描最小处理表面的样品材料，无需样品涂层或抛光
• 使基于数据的方法能够为需要更昂贵样品制备的方法选择采样位置
• 快速评估矿化和蚀变，以限制正在进行的近实时迭代的概念勘探模型
• 通过在可比尺度上测量元素浓度，为高光谱技术提供“地面真相”和补充数据

许多矿化过程在微米级留下记录。扫描电子显微镜（SEM）表征是在这种规模下可视化和分析过程的最准确方法。Bruker的自动化矿物学和大面积元素制图解决方案EDS使用背散射选择（BSE）成像的X射线成像，提供分辨率低至~1µm的详细分析。单击此处了解有关岩石特征的更多信息，以便使用显微分析进行勘探。

传统的岩石矿物分析将三维世界视为二维世界。光学显微镜、SEM和micro XRF中的薄片和芯板分析都需要从单个平面进行外推才能理解3D对象。在岩芯上进行高分辨率三维X射线显微镜研究，可以进行三维非破坏性观察。布鲁克氏天空扫描系列x射线显微镜与其他方法一起工作，以产生有关地质特征的形状、大小和相互关系的详细信息。当与扫描电镜或微xrf的自动化矿物学相结合时，就有可能开发出完全全面的微米级矿石分布模型，更好地定义矿化过程，并预测粉碎和其他处理行为。