电子显微镜分析仪

扫描电镜定量分析

分析挑战的解决方案-SEM、FIB和EPMA的EDS

能量色散光谱法中的标准

快速的多才多艺的需求量很大。

扫描电镜定量分析

集锦

600
kcps
分析吞吐量
最佳分析速度
121
电动汽车
峰值分辨率
轻元素分析的最佳能量分辨率
4.
组合式EDS探测器
使用多个探测器或探测器阵列最大化吞吐量

EDS采用细线技术,适用于SEM、FIB和EPMA

Bruker再次为扫描电子显微镜的能量色散光谱法的性能和功能设定了标准。新一代QUANTAX EDS的特点是XFlash®6.具有10至100 mm有效面积的探测器系列2..

第6代提供了硬件和软件技术,以提供最快、最可靠的结果:

节省时间-新的细线技术探测器、大面积SDD、多探测器控制和高性能脉冲处理使工作更快完成

省力-电动探测器移动和重量轻的设计使探测器操作更容易

获得更高的精度-最佳能量分辨率为精确分析提供最高质量的光谱

获得更高的可靠性-世界上最全面的原子数据库确保了最可靠的低能峰值识别

获得更高的准确度-最复杂的量化算法以及无标准和基于标准的方法的独特组合提供了最高精度的结果

利益

使您的元素分析更有效!

单个显微镜适应、无与伦比的速度和精度的结合,为任何实验室带来了最强大的EDS系统。该系统包括光谱成像,使微纳米分析不再是一个挑战。

XFlash®探测器系列还为TEM和STEM以及独特的XFlash®扁平四边形,一个用来回答棘手样品问题的探测器。

此外,EDS与EBSD、Micro XRF和WDS在一个用户界面ESPRIT中的无缝集成为任何SEM、FIB和EPMA提供了最全面的分析平台。

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