陨石标本的高分辨率x射线元素映射

陨石样品很稀有，因此很珍贵，最好采用非破坏性方法进行分析。当对原始表面的微观研究成为研究重点时，严格排除基于sem的EDS分析的常见样品制备步骤，如切割、研磨、抛光和碳涂层。

在这种情况下，传统的EDS探测器面临着局限性，特别是当需要高空间分辨率时。由于矿物学陨石标本不导电和地形，充电和阴影效应是主要的挑战。

为了克服这些限制，一种最先进的解决方案可用XFlash^®FlatQUAD．这种独特的环形EDS检测器被直接放置在样品上方，类似于疯牛病检测器。它的特点是对低x射线产率具有极高的灵敏度，最大限度地减少任何阴影效应，因此是绘制粗糙、未涂层样品(如陨石)的完美工具。

我们调查了Mocs陨石，这是1882年2月2日匈牙利历史性的秋天，由维也纳自然历史博物馆(NHM)提供。的应用XFlash^®FlatQUAD即使在深空腔内，它也能对元素组成进行高分辨率映射，从而阐明宇宙物质的演化。(Salge et al.， EMAS 2018 -地球科学中的微束分析，布里斯托尔，英国，第16页)