Xflash 6-30
多功能中型SDD
Xflash 6-30探测器
Xflash.®6-30相结合了优异的能量分辨率，较大的固体角度为30毫米2有源区芯片。这使得探测器对于想要在整个EDS应用中使用探测器的分析师来说非常有吸引力，从光元分析到快速映射和组合EDS和EBSD测量。Xflash.®6-30肯定会提供快速的结果。
总之，Xflash®6-30提供以下优点：
- Xflash.®6-30优化能量分辨率（MnKα的123eV，4例EV在CKα和53eV中可用）
- 其他可用的分辨率是126eV和129eV，MnKα
- 极高的脉冲负载能力
- 优异的轻质元件和低能量性能（BE - AM元素范围）
- 没有详细，振动产生冷却系统
- 电源后立即可用
- 低运营成本
- 免维护操作
- 小尺寸，包括纤维线技术手指
- 低重量
建议Xflash的申请领域®6-30是：
- EDS SEM，Microprobe，FIB-SEM（作为选项提供的焊接波纹管）
- 使用EFLASH FS组合EDS和快速EBSD分析
- 快速元素映射