Quantax Micro-XRF

新的快速阶段专门为SEM设计，使大面积映射超过毫米（mm）到厘米（cm）尺度。这将消除与低放大率映射相关的潜在的SEM X射线强度变化伪像，从而在以前不可能的不间断的庄园中增强元素和矿物学信息。

观察样品中元素变化的能力对于理解地质过程和矿床成因非常重要。双源系统（在SEM上结合了微XRF）能够在大面积上绘制元素X射线图，显示ppm尺度上的主要、次要和微量元素。

Micro-XRF与SEM的组合使得能够在多个刻度下分析样品，从厘米（cm）到毫米（mm）到微米（μm）和下面的孤立系统。因此，通过将Micro-XRF添加到SEM，将SEM转换为双源系统，这意味着有2个激励源，电子束和光子束。源源可以单独使用，或同时使用，生成将使用相同的EDS检测器测量的样本X射线。

我们展示了来自含金刚石纽兰金伯利岩（南非卡普瓦尔克拉通）的地幔石榴石-尖晶石橄榄岩的SEM-XRF元素图。各种元素的强度表明样品中存在某些矿物。

使用SEM-XRF的大面积映射（Hypermap）可在具有地形的样品上执行。也就是说，需要最少的样品制备，并且可以直接分析样品而无需任何脱脂。这在土壤分析中尤其重要，因为任何形式的样品制备，如安装和抛光或碳涂层，都可能改变样品。

由于X射线可能通过物质，X射线荧光（XRF）允许确定层厚度。在SEM上使用Micro-XRF，层分分析（厚度和组成）在微米刻度下具有空间分辨率可行。层分析基于使用原子基础参数（FP）的量化。