Quantax Micro-XRF

新的快速阶段专门为SEM设计，使大面积映射超过毫米（mm）到厘米（cm）尺度。这将消除与低放大率映射相关的潜在的SEM X射线强度变化伪像，从而在以前不可能的不间断的庄园中增强元素和矿物学信息。

观察样品中元素变化的能力对于了解地质过程和矿床成因很重要。该双源系统在扫描电子显微镜上结合了微型xrf，可以在大范围内绘制元素x射线图，可以在ppm尺度上显示主要、次要和微量元素。

Micro-XRF与SEM的组合使得能够在多个刻度下分析样品，从厘米（cm）到毫米（mm）到微米（μm）和下面的孤立系统。因此，通过将Micro-XRF添加到SEM，将SEM转换为双源系统，这意味着有2个激励源，电子束和光子束。源源可以单独使用，或同时使用，生成将使用相同的EDS检测器测量的样本X射线。

我们给出了来自南非卡普瓦尔克拉通纽兰兹金柏岩的地幔石榴石尖晶石橄榄岩的SEM-XRF元素图。各种元素的强度表明样品中存在某些矿物质。

使用SEM-XRF可以对具有地形的样本进行大面积制图(Hypermaps)。也就是说，只需要少量的样品制备，样品可以直接分析而不产生任何降解。这尤其适用于土壤分析，任何形式的样品制备，如安装和抛光或碳涂层，都可能改变样品。

由于X射线可能通过物质，X射线荧光（XRF）允许确定层厚度。在SEM上使用Micro-XRF，层分分析（厚度和组成）在微米刻度下具有空间分辨率可行。层分析基于使用原子基础参数（FP）的量化。