量子μxrf

（mm）（cm）（cm）cm）スケール（スケールスケールスケールスケール大领域领域マッピングををを可能ようように，，，，，，，，，，，，，，用用用用用用用用用用にに特别ににに设计设计ささささ様々な排除し，は可能だったな元素およびおよび鉱物学的的情报をを强化。

サンプル内変化観察する能力は，地质学プロセスプロセスと鉱床起源ををををを理解理解理解するするするするするする重要重要重要ですです。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。x线マッピング可能に。。

μxrfsem（cm）（cm）（mm）（mm）（mm）（μm）（μm）以下μm）以下（μm）以下以下以下以下以下，，复数复数复数复数ののののスケールスケールスケールででサンプルサンプルををををを分析分析分析分析sem sem sem semをにすることができます。电子电子とののののののつのつの励起源起源があることをを意味意味し。。どちらのEds検出同じ検出を使っ测定でき。。。

（（（（（（クラトンバールバール）），）ています。

Sem-xrfをし広域ハイハイハイハイハイハイハイハイハイはは像と観察れれますつまり，最小限ののサンプル调制のみで，サンプルサンプルは劣化劣化劣化することなくなくなくなくなく分析においてのを変えてしまう取り付け研磨，またはコーティングコーティングなどのあらゆるサンプルサンプル调制调制ますますます

x线蛍光蛍光蛍光x x x xrf）xrf）x（（によりによりの决定决定が可能可能ですです。。。。。。。。上ののののμxrfをμμをををを使用して，，（fp）fp）をををををししたた定量定量に基づいています。。。