观察样品中元素变化的能力对于了解地质过程和矿床成因很重要。双源系统包含一个扫描电镜上的微xrf允许在大范围内进行元素x射线映射,在ppm尺度上显示主要元素、次要元素和痕量元素。
该图显示了来自一个外来铜矿的样品的微型xrf大面积x射线图(45 x 30 mm²),显示了铜(红色)、钙(绿色)、锰(蓝色)、硅(紫色)和氯(深绿色)的元素分布信息。此外,在该样品中还可以检测到电子束无法检测到的痕量元素,如Co和SrEDS由于浓度过低和/或相关元素能量线过高。这些资料使我们能够更好地了解它们的分布、矿物学和结构关系以及矿床成因。