油气:上游勘探

Uncompromising Tools for Oil and Gas Exploration

随着边境进入更深的水,更复杂的盆地中的水平,石油和天然气勘探发生了一场革命。Bruker的仪器可提供跨尺度的可靠信息,从纳米孔到盆地范围的化学地层相关性。

Introduction

布鲁克Enables Multi-scale Analysis to Reduce Risk and Empower Discovery in Oil and Gas Exploration

石油和天然气的勘探需要强烈的科学研究,以确定积累和脱离风险的勘探和生产。在极端深处的井,非常规的石油和天然气,susalt勘探以及极端环境中的边境勘探时代,需要新的工具来调查石油系统元素。布鲁克(Bruker)的储层表征和化学地层学工具包括能够可视化和表征岩石从盆地到毛孔的岩石组成的能力。

Chemostratigraphy

Chemostratigraphy

Chemostratigraphy is the use of variations in the chemical composition of sedimentary successions to:

  • 了解盆或田间量表的相关关系

  • identify elemental proxies used in paleoecological reconstructions

  • aid in building sequence stratigraphic frameworks

  • 识别岩石的物理特性进行钻孔和汇编

布鲁克provides tools for the elemental and chemical analysis of core and cuttings to make chemostratigraphy easy and scalable. Click below to learn more about applying chemostratigraphy to any sized project.

用示踪剂5收集元素化学地层学数据

散装地球化学

散装地球化学

元素分析是该领域和石油地质学家的重要工具,可以表征和识别石油或气体的形成。可以通过X射线荧光(XRF)分析钻头,泥浆或核心。

  • 台式S2 PUMASeries 2 reaches low detection limits on prepared drill cuttings in a mobile lab by using the Energy Dispersive XRF (EDXRF).

  • The analysis of majors and traces in the lab is best performed by the floor standingS8老虎Series 2 Wavelength Dispersive XRF (WDXRF) spectrometer using either the GEO-QUANT package or custom calibrations.

  • TheCTXis a compact portable countertop XRF ideal for rig operations, with a battery backup, push-button operation, spill-proof rugged aluminum case, and safety-interlocked lid. Now available with the MUDROCK matrix-matched calibration, the versatile GeoEXPLORATION calibration, or a custom calibration.

  • TheTRACER 5g是理想的便携式光谱仪的核心,露头,或铜ttings. With a helium flush and graphene window it has the best light element performance in a handheld. When paired with the MUDROCK calibration or a custom matrix-matched formation-specific calibration it is the most trusted portable XRF in oil and gas.

Bulk Mineralogy

Bulk Mineralogy

X射线衍射(XRD)提供了有关沉积物或形成矿物质组成的其他信息。XRD通过其晶体结构区分具有相同或相似化学的矿物质。它不仅允许识别矿物DIFFRAC.EVA, but also offers standardless quantification using the Rietveld approach. Even non-crystalline phases may be quantified using this method. It enables pinpointing of potential reservoirs and host formations. A major advantage is the rather simple and quick sample preparation. The analysis of drill cuts can be done in a mobile lab using BRUKER’s benchtopD2移动器. In a lab setting, theD8努力or theD8 ADVANCEis the optimal choice.

Reservoir Characterization

探索用于储层表征和编队评估的新技术

储层表征模型结合了与烃的存储和生产有关的岩石特性。布鲁克的创新岩石特征工具可以在沉积岩中提供新的信息:

  • 沉积岩的视觉地球化学,包括元素和分子分布的可视化化学

  • Maps of minerals on scales from microns to nanometers including the ability to combine methods to translate 2D data to 3D data

  • 在两个和三个维度中的毛孔和渗透性的可视化和表征,包括页岩中的纳米孔孔和砂岩中复杂的孔网络

Below is a summary of methods used for reservoir characterization. Reach out to Bruker’s oil and gas experts to discuss any analytical needs and to the best solution.

孔网络

开放孔网络的结构分析

了解孔隙度和渗透率对于石油和天然气储层表征,沉积学,水文地质学和地下水研究很重要。XRM可以表征和可视化孔,孔径分布以及开放式孔隙网络的表征和可视化。该信息可能对石油和天然气生产模型,天然气或水洪水,模拟研究,污染流程建模,变形实验和沉积岩石学有深远的影响。

阶段分析

D2 Phaser的页岩地层的Wellite矿物学分析

页岩反应性的分析通常涉及多种分析技术,包括但不限于X射线衍射,X射线荧光,伽马记录,光学显微镜,电子显微镜,总有机含量和阳离子交换能力。从矿物学的角度来看,XRD被广泛认为是最受欢迎的技术,特别是对于基本相似阶段的歧视。

例如,赤铁矿(Fe2O3)和辅助石(FECO3)给出了类似的元素签名,但具有明显的衍射模式。通常,对于井孔的垂直和水平段,经常获得衍射数据。垂直部分的分析允许鉴定具有理想物理特性的区域。在非常规储层的水平片段中,XRD主要用于地理座,以确保井眼留在特定的地质床中。

En Savoir Plus

Webinars on Exploration and Geological Characterization

The annular SDD XFlash® FlatQUAD is ideally suited for the analysis of topographically complex, three-dimensional and beam sensitive samples.
2020年5月28日

使用环形硅漂移探测器快速,准确和精确的定量结果:布鲁克的Xflash Flatquad

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按需会议 - 63分钟

Seeing the world through other eyes

Scanning micro-XRF has developed into a highly informative analytical tool for the study of complex samples across multiple disciplines.
为XRF制定自己的次要标准的技巧和窍门
2020年7月28日

为XRF制定自己的次要标准的技巧和窍门

布鲁克和弗卢萨纳联手。
csm_2018-Advanced_Data_Mining_in_Micro-XRF-webinar_34a8f3caa4
September 4, 2018

Micro-XRF中的高级数据挖掘

In this webinar we will focus on 3 examples on how to get data out of a Hypermap data cube using different software features.
地质的分析SEM解决方案 - 第一部分
2019年8月13日

地质的分析SEM解决方案 - 第一部分

加入我们的网络研讨会,分为两个部分,涵盖扫描电子显微镜技术(EDS,EBSD,CL)的各个方面。
这些技术是表面敏感的
2019年9月10日

地质的分析SEM解决方案 - 第二部分

加入该免费网络研讨会的第二部分,以扫描电子显微镜技术(EBSD,CL)进行地质应用。
布鲁克's M4 TORNADO is a tabletop Micro-XRF spectrometer.
2019年5月16日

探索地球科学中的微XRF

探索Micro-XRF的激动人心的地质世界,并获得有关领先的Micro-XRF专家回答的方法的问题。
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April 25, 2019

使用SEM的Quontax WD对地质样品的高级元素分析

WD的优势用于分析地质样本的SEM。
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March 14, 2019

Large Area High Resolution Maps of Geological Samples

在本网络研讨会中,我们介绍了与各种应用相关的地质样本的超图分析,例如经济地质,矿物学等
地质样本的红外和拉曼分析
November 9, 2018

地质样本的红外和拉曼分析

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2017年6月15日

M4 Tornado Amics识别矿物组成变化的最新进展

新的M4龙卷风光谱仪允许从空间解析的X射线荧光(XRF)信号创建矿物图。
AMICS
2016年12月15日

Amics - 用于自动识别和量化矿物和合成阶段的最新软件包

高级矿物识别和表征系统(AMIC)是用于自动识别和量化矿物和合成阶段的最新软件包。该软件包的关键在于其创新成像和分析软件功能。

Produits connexes

Products for Exploration and Geological Characterization

方法 表征目标 样品制备
台式Micro-XRF Map texture, composition and sedimentary structures with major and trace elements down to 18 µm 稍微粗糙至平坦的表面,标准的薄部分,方针,核心塞,核心板,插条散射安装。
XRM / X射线显微镜 结构和孔隙率的三维映射 Core plugs, rock fragments
Raman Microscopes 带有拉曼散射现象的分子结构用于有机物分析,热成熟度和流体包容分析。 Standard thin sections, cuttings, core plugs.
FTIR Microscopes C-H-O functional groups including organic matter analysis, mineral identification, and hydrocarbon analysis 抛光和光滑的表面,薄部分,核心,插条
扫描电子显微镜(SEM)的EDS Microanalysis of pores and textures for detailed characterization major and some trace elements 抛光和涂层薄部分或SEM安装座。需要真空。
自动矿物学 将BSE和EDS组合用于高速大区域矿物图,以表征质地,孔隙率,矿物关联,计算的物理特性(Young的模量),并生成针对LA-ICP-MS的靶标 抛光和涂层薄部分或SEM安装座。需要真空。
micro-XRF for Scanning Electron Microscope (SEM) 改善具有100 µm X射线斑点的扫描电子显微镜中的痕量元素性能,对于诸如U和MO等环境代理尤其重要。 抛光和涂层薄部分或SEM安装座。需要真空。
透射电子显微镜(TEM)的EDS 主要元素和一些具有最佳分辨率的痕量元素。 Specialized TEM lamina sample preparation.
纳米注视 Benchtop or SEM-mounted hardness testing used to calculate Young’s modulus and other physical parameters 抛光和涂层薄部分或SEM安装座。Vacuum sometimes required.
原子力显微镜 在接近原子尺度上的表面表征的新兴工具可用于识别和表征固体有机物 Polished thin section or mount, vacuum not required
EBSD/TKD Detailed mineral maps and crystal orientation studies. 高度抛光的薄片和电子透明样品
X-ray Diffraction
晶体学期识别和定量 Ground powders and flat surfaces