玻璃工业

为了满足其后期使用的要求，在原玻璃中混合或溶解不同类型的材料。该过程以及原材料分析可通过X射线荧光分析（XRF），取决于EDXRF测定的元素和浓度范围S2美洲狮或WDXRFS6捷豹.

为了对处于最终状态的玻璃或金属涂层进行无损分析，或对特定感兴趣元素的空间分布进行分析，微X射线荧光技术，如M4龙卷风这个M4龙卷风升级版或者用于扫描电镜的QUANTAX微X射线荧光分析是非常适合的分析方法。

如果需要更高的空间分辨率，扫描和透射电子显微镜（SEM和TEM）可提供极高的分辨率和使用Bruker的机会全税制进行能量色散光谱分析(EDS)用于无机材料分析。使用波长色散光谱仪全税字，具有挑战性的低能或轻元素材bob综合游戏料由于其优异的能量分辨率和轻元素灵敏度，可以更好地测定全税EBSD在（电子背散射衍射）系统中，可以获得晶体取向图，以了解结晶学和相界，并研究材料中的变形。bob综合游戏

正是“玻璃态”的基本性质预示着传统的X射线衍射（XRD）提供合理的结构信息–玻璃没有晶体材料中存在的长程有序性。µ-XRDD8发现可以帮助描述玻璃中发现的假夹杂物，因为它们通常由晶体材料形成。

由于各种原因，通常会对未加工的玻璃和金属进行涂层。涂层可能具有防腐性，使表面硬化，可能反射热辐射或任何其他类型的光，或者只是使底层材料变得更高贵。
掠入射X射线衍射（GID）D8预付款有助于明确确定涂层的晶体成分。X射线反射仪（XRR）和微X射线荧光技术启用层厚度的非破坏性测定，即使是子表面层。