玻璃在工业中

为了满足其后来使用的要求，将不同类型的材料混合或溶解在原料玻璃中。可以通过该过程以及原材料分析监测X射线荧光分析（XRF），取决于EDXRF的元素和浓度范围S2彪马或wdxrf.S6 Jaguar.。

在其最终状态或金属涂层中对玻璃进行非破坏性分析，或者对感兴趣的特定元素的空间分布进行分析，微XRF技术如M4龙卷风， 这M4龙卷风加或者SUMQUAL SUMM-XRF for SEM很适合分析方法。

如果需要更高的空间分辨率，扫描和透射电子显微镜（SEM和TEM）提供极高的分辨率和使用Bruker的机会量化系统进行能量分散光谱（eds.）用于无机材料分析。使用波长色散光谱仪量化WDS，由于其优异的能量分辨率和光bob综合游戏元素灵敏度，可以更好地确定低能量或光元素范围内的具有挑战性的材料。使用基于SEMQuantax EBSD.（电子背散射衍射）系统，可以获得晶体取向图以了解晶体学和相界，以及材料的变形。bob综合游戏

究竟“玻璃态”的基本属性预计将传统X射线衍射（XRD）提供合理的结构信息 - 玻璃不具有晶体材料中存在的远程顺序。μ-xrd与D8发现可以帮助在玻璃中发现杂散夹杂物，因为它们通常由晶体材料形成。

由于各种原因，通常是原始玻璃以及金属。涂层可能被防腐，硬化表面，可以反射热辐射或任何其他类型的光，或者简单地啃下底层材料。
用筛选发病率X射线衍射（GID）D8推进有助于确定涂层的结晶组合物。X射线反射测量仪（XRR）和Micro-XRF Technologies即使对于子表面层，也能够使层厚度的非破坏性确定。