纳米
原位纳米级电接触电阻
导电纳米引导
电流与位移曲线以及从凹痕到SI的电流测量值，显示了相变时电阻率的变化。
电触点电阻测量与纳米引导的组合为纳米级的接触性演化和材料变形行为提供了宝贵的新见解。通过将电流通过导电纳米Indententer探针，可以通过施加的探针力和探针位移到样品表面确定纳米级的电特性。除了定量测量纳米级电气接触的I-V特性外，还可以在薄膜断裂，脱位成核，变形瞬变，接触电阻，疲劳，二极管行为，隧道行为，隧道，隧道，隧道，隧道，隧道式，压电反应，相变，相变，相变，相变，相变，相变，相位转换，相位转换，以及更多的。
在单个压痕实验中，在不同载荷获得的一系列电流 - 电压（I-V）曲线。
原位电气和纳米凹痕测量
布鲁克（Bruker）的纳米ECR利用了布鲁克（Bruker）专有静电传感器的新模型，该模型已经过修改，以通过导电凹痕探针从样品偏置阶段提供电路，以连续测量不断发展的电触点条件作为施加力和探测器的功能和探针位移。在反馈控制下运行，NANOECR可以在高度控制的施加负载或探针位移条件下从纳米级探针触点进行恒定电压或I-V扫描测量。
