나노ECR
인-시투나노스케일전기접촉저항
전도성나노식별
현재및변위곡선및수동값에서Si로의현재측정을상호연관하여위상변환중에저항성의변화를보여주어있습니다。
전기접촉저항측정과나노들여쓰기의조합은나노스케일의접촉저항진화및재료변형거동에대한귀중한새로운통찰력을제공합니다。전도성나노인덴터프로브를통해전류를전달함으로써나노스케일전기적특성은시표면으로적용된프로브힘과프로브변위의함수로결정될수있습니다。나노스케일전기접촉의电流-电压특성의정량적측정외에도박막골절,탈구핵,변형과도,접촉저항,피로,다이오드동작,터널링효과,압전반응,위상변환등의영역에서새로운통찰력을얻을수있습니다。
단일들여쓰기실험중에서로다른하중에서얻은일련의전류전압(电流-电压)곡선입니다。
인시투전기및나노들여쓰기측정
力量의나노ECR은전도성인덴터프로브를통해샘플바이어싱단계에서전기경로를제공하도록수정된브루커의독자적인정전기변환기의새로운모델을활용하여적용된힘과프로브변위의함수로서진화하는전기접촉조건을지속적으로측정할수있도록합니다。피드백제어하에작동하면서나노ECR은고도로제어된적용부하또는프로브변위조건동안나노스케일프로브접접촉에서일정한전압또는电流-电压스윕측정을가능하게합니다。
