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一种特定的植物或作物生长的好坏在很大程度上取决于土壤的肥力。为了全面了解情况,需要评估碳、氮和硝酸盐等参数,但也需要评估某些金属。另一方面,必须避免污染。Bruker的光谱学解决方案可以在实验室或现场进行快速分析。
XRF是一种快速、无损的技术,可以对整个植物系统,包括种子、土壤、灌溉、肥料、根系和地上部系统的宏观养分、微量养分和重金属进行元素分析。布鲁克的元素分析仪投资组合包括高通量的实验室ED-XRF和WD-XRF,傻瓜手持式光谱仪,micro-XRF,以及超痕量分析TXRF光谱仪。
布鲁克提供广泛用于土壤分析应用的FT-IR和FT-NIR光谱仪。FT-NIR光谱学为分析土壤中全碳和全氮提供了一种快速且具有成本效益的工具,这两个参数有助于更好地理解和管理施肥效果。
红外光谱法正日益被用作传统土壤测试方法的补充和替代方法,以估计许多土壤功能特性和植物特性。
近红外可以测量更大的样品体积,在样品制备方面要求更低。虽然MIR需要研磨到细颗粒,但它通常可以实现更精确的校准,并适用于更多的参数。
可以监控的参数示例:
虽然FT-NIR光谱学主要用于分析有机物,也可用于测定矿物的浓度,因为它们对吸水带的形状有影响。这样,就可以测定氮磷钾颗粒肥的全氮、全磷和水溶性钾含量。除了总和参数(如总氮)外,还可以测定铵态氮、硝态氮等单个组分。此外,根据基质和浓度,还可以测定添加的矿物质或元素,如钙或镁。
建议采用几种测量点的粒状肥料生产,以便在加入过程之前测试原料的组成以及混合或造粒后的最终产品确保最佳产品控制。可以使用多通道监控这些测量点过程FT-NIR谱分析。
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