MATRIX-F
突出了
FT-NIR过程监控
今天，许多制造商不仅努力生产最高质量的最终产品，而且通过将实验室的分析技术应用于他们的工厂来提高生产效率。通过加强对制造过程的控制，就有可能优化材料的使用，减少或消除不合格材料的生产，从而避免再加工或处理成本。bob综合游戏
ft -近红外分析具有实时、在线的优点。然而，传统的光谱仪只能安装在他们所监测的过程附近，这使得分析仪暴露在恶劣的环境中，比如剧烈的温度变化和暴露在灰尘和污垢中。此外，仪器需要放置在难以进入的区域，通常是不受保护的区域。
通过使用光纤技术，当MATRIX-F定位时，例如在分析室中，可以通过工业硬化光纤探头访问难以到达的测量点。布鲁克光学为各种在线分析任务提供完整的解决方案。
通常的过程控制应用包括直接监测化学反应和中间产品和最终产品的质量:
- 直接测量过程反应器或管道，在腹板或传送带。
- 远距离的遥测。
- 改进的过程理解和控制。
- 理想的工具，用于测定混合过程的均匀性，成分化学物质的浓度和聚合过程的状态在各种行业。
最大的效用
MATRIX-F是唯一的ft -近红外光谱仪，可以测量材料的接触和非接触，只需一个仪器使用光纤技术:
- 光纤探针:经典的漫反射，半透明或传输探头与各种路径长度可以采用，以及工艺流程细胞或中试工厂组件。各种探头材料可供选择，如不锈bob综合游戏钢或哈氏合金。
- 非接触式测量头:光纤近红外照明和检测头包含照亮样品的钨源。散射光通过一根光纤电缆被收集和引导到光谱仪。通过这种方式，非接触式测量可以远程执行，开启了一系列新的应用程序。多达六个头可以连接到一个矩阵- f发射或矩阵- f双谱仪。
MATRIX-F:
采用光纤耦合的经典ft -近红外光谱仪，用于流池和常规探头(用于固体和液体)。
MATRIX-F排放:
MATRIX-F光谱仪的特殊版本，用于光纤耦合测量头，仅用于非接触测量。
MATRIX-F双工:
经典的MATRIX-F FT-NIR光谱仪的扩展，同时使用光纤探头和光纤耦合测量头。
MATRIX-F exproof:
MATRIX-F也可作为防爆，ATEX评级版本，符合以下标准:
- II 2G Ex px II T6 Gb
- II (1) G [Ex op为T4 Ga
特性
先进的技术
MATRIX-F是一个专用的FT-NIR过程光谱仪，可以直接承受恶劣的环境。
该仪器采用最先进的光学技术，在紧凑的模块中具有卓越的灵敏度和稳定性。其创新的设计提供了一致的高质量结果，更少的停机时间，直接的方法转移和新的应用的可能性，不太敏感和精密的仪器不能。对行业标准通信协议的全面支持保证了易于集成。
MATRIX-F也可以作为方法开发的独立系统安装在实验室中，然后直接转移到您的工艺应用程序中。它可作为一个独立单元与NEMA 4/IP66(防溅)外壳，但也可以安装在一个标准19英寸机架在温度控制柜。MATRIX-F可以配备一个6端口光纤多路复用器。
- 精确的内联结果在秒
- 每次测量多分量
- 非破坏性分析
- 可选内置6端口多路复用器
- 直接法转移
- 坚固的设计
- 以太网连接和工业标准通信协议
简单的维护
MATRIX-F是为可靠性和易于维护而设计的。在预对齐安装的消耗性组件是用户可交换的，没有任何重新调整的光学。该仪器可以快速维修，尽量减少对制造过程的干扰bob电竞官方网站。
仪器性能验证
MATRIX-F配备了自动过滤轮，用于测试仪器性能的标准材料和过滤器。bob综合游戏OVP (OPUS验证程序)软件执行一系列性能测试，评估仪器性能并确保仪器在规格范围内运行——这是制药行业应用的前提条件。
连接
CMET软件提供了一个工业标准接口(OPC)，允许OPUS集成在任何过程控制环境中，使用广泛的标准通信接口和协议，包括4-20mA、Modbus、Profibus DP和OPC。
更多的信息
FT-NIR文学空间
通过下载相关文献了解更多关于FT-NIR产品和解决方案。
支持
应用程序支持
布鲁克光学由对仪器和应用有深入了解的专家科学家和工程师组成。我们的产品专家可以帮助您远程或在您的实验室进行方法开发。
此外，布鲁克光学提供了一系列随时可用的校准，以帮助您进入近红外光谱的世界。
bob电竞官方网站服务和培训
布鲁克光学光谱仪的设计宗旨是提供多年可靠的无故障操作，但如果出现问题布鲁克公司和代表网络在世界各地随时准备迅速响应您的需求。专业的安装和高标准的售后服务是布鲁克光学对每一位客户的承诺。bob电竞官方网站远程诊断以及各种服务合同包可提供全面支持。bob电竞官方网站
除了定期的客户培训外，我们还可以根据您的需要安排专门的内部研讨会和本地支持。
