MATRIX-F
하이라이트
FT-NIR 프로세스 모니터링
오늘날 많은 제조업체들은 최고 품질의 최종 제품을 생산할 뿐만 아니라 실험실에서 분석 기술을 사용하여 제조 효율성을 개선하기 위해 노력하고 있습니다. 제조 공정에 대한 엄격한 제어를 확보함으로써 재료 사용을 최적화하고 오프 사양 재료의 생산을 줄이거나 제거하여 재처리 또는 폐기 비용을 피할 수 있습니다.
실시간 온라인 FT-NIR 분석의 장점은 잘 확립되었습니다. 그러나, 종래의 분광계는 모니터링하는 공정에 가깝게만 설치될 수 있어, 이는 급격한 온도 변화 및 먼지 및 먼지에 대한 노출과 같은 적대적인 환경에 분석기를 노출하게 합니다. 또한, 계측기는 접근이 어렵고 종종 전 보호 구역에 배치되어야 합니다.
광섬유 기술을 사용하여, 측정 지점에 도달하기 어려운 것은 산업 경화 광섬유 프로브에 의해 액세스 할 수 있습니다, MATRIX-F는 분석 하우스에 예를 들어 배치되는 동안. Bruker Optics는 다양한 온라인 분석 작업을 위한 완벽한 솔루션을 제공합니다.
일반적인 공정 제어 응용 분야에는 화학 반응과 중간 및 최종 제품의 품질에 대한 직접적인 모니터링이 포함됩니다.
- 공정 반응기 또는 파이프라인, 웹 또는 컨베이어 벨트에서 직접 측정할 수 있습니다.
- 장거리에서 원격 측정.
- 향상된 프로세스 이해 및 제어.
- 혼합 공정의 균일성, 성분 화학 물질의 농도 및 다양한 산업에서 중합 공정의 상태를 결정하기위한 이상적인 도구.
최대유틸리티
MATRIX-F는 광섬유 기술을 사용하여 하나의 계측기로 접촉하는 재료와 비접촉식 물질을 측정할 수 있는 유일한 FT-NIR 분광계입니다.
- 광섬유 프로브:다양한 경로 길이를 가진 고전적인 확산 반사도, 트랜스플렉턴또는 전송 프로브뿐만 아니라 공정 흐름 셀 또는 파일럿 플랜트 어셈블리를 채택할 수 있다. 스테인리스 스틸 이나 하스텔로이 와 같은 다양한 프로브 재료를 사용할 수 있습니다.
- 비접촉식 측정 책임자:광섬유 NIR 조명 및 검출 헤드에는 샘플을 비추는 텅스텐 소스가 포함되어 있습니다. 산란된 빛은 광섬유 케이블을 통해 분광계로 이동합니다. 이렇게 하면 비접촉식 측정을 원격으로 수행하여 전체 배열의 새로운 응용 프로그램을 열 수 있습니다. 최대 6개의 헤드를 하나의 MATRIX-F 방출 또는 MATRIX-F 이중 분광계에 연결할 수 있습니다.
MATRIX-F:
유량 세포 및 종래의 프로브(고체 및 액체용)를 사용하기 위한 광섬유 커플링이 있는 고전적인 FT-NIR 분광계.
MATRIX-F 방출:
접촉없는 측정을 위한 섬유 결합 측정 헤드를 사용하기 위한 MATRIX-F 분광계의 특수 버전.
MATRIX-F 이중:
광섬유 프로브와 광섬유 결합 측정 헤드의 동시 사용을 위한 고전적인 MATRIX-F FT-NIR 분광계의 확장.
MATRIX-F 방제:
MATRIX-F는 다음 표준을 준수하는 전폭적인 ATEX 등급 버전으로도 제공됩니다.
- II 2G Ex px II T6 Gb
- II (1) G [Ex op는 T4 Ga] II C
특징
첨단 기술
MATRIX-F는 열악한 환경을 직접 견딜 수 있는 전용 FT-NIR 공정 분광계입니다.
이 계측기는 최첨단 광학 장치를 사용하여 뛰어난 감도및 컴팩트 모듈의 안정성. 혁신적인 디자인으로 일관된 고품질 결과, 가동 중지 시간 감소, 직접 메서드 전송 덜 민감하고 정확한 새로운 응용 프로그램의 가능성 악기는 할 수 없습니다. 산업 표준의 전체 지원 통신 프로토콜은 쉽게 통합할 수 있습니다.
Tthe MATRIX-F는 또한 독립형 시스템으로 실험실에 설치될 수 있습니다. 방법 개발을 위해 프로세스로 직접 이동 응용 프로그램. NEMA 4/IP66의 독립형 유닛으로 이용 가능합니다. (방수) 하우징, 표준 19 인치에 장착 할 수 있습니다 온도 제어 캐비닛의 랙. MATRIX-F는 장착할 수 있습니다. 6 포트 광섬유 멀티플렉서.
- 정확한 인라인 결과 초
- 측정당 여러 구성 요소
- 비파괴 분석
- 옵션 내장 6포트 멀티플렉서
- 직접 메서드 전송
- 견고한 디자인
- 이더넷 연결 및 업계 표준 통신 프로토콜
간편한 유지보수
MATRIX-F는 신뢰성과 간편한 유지 보수를 위해 설계되었습니다. 사전 정렬된 마운트의 소모품 구성 요소는 사용자 교환 가능 광학의 재조정없이. 계측기를 서비스할 수 있습니다. 제조 공정의 중단을 최소화할 수 있습니다.
계측기 성능 검증
MATRIX-F에는 자동 필터 휠이 장착되어 있습니다. 테스트 기기 성능을 위한 표준 재료 및 필터. Tthe OVP(OPUS 유효성 검사 프로그램) 소프트웨어가 일련의 성능을 실행합니다. 테스트, 계측기 성능을 평가하고 계측기는 사양 내에서 작동 - 제약 산업의 응용 프로그램.
인터넷
CMET 소프트웨어 OPUS가 될 수 있도록 하는 산업 표준 인터페이스(OPC)를 제공합니다. 광범위한 공정 제어 환경에 통합 4-20mA를 포함한 표준 통신 인터페이스 및 프로토콜, 모드 버스, Profibus DP 및 OPC.
추가 정보
FT-NIR 관련 자료
관련 문헌을 다운로드하여 FT-NIR 제품 및 솔루션에 대해 자세히 알아보십시오.
지원
응용 프로그램 지원
Bruker Optics는 계측 및 응용 분야의 심층적인 노하우를 가진 전문 과학자와 엔지니어의 직원입니다. 당사의 제품 전문가는 원격으로 또는 실험실에서 방법 개발을 지원할 수 있습니다.
또한, 브루커 옵틱스는 NIR 분광학의 세계로의 진입을 용이하게 하는 다양한 즉시 사용 교정을 제공합니다.
서비스 및 교육
Bruker Optics 분광기는 수년간의 신뢰할 수 있는 문제 없는 운영을 제공하도록 설계되었지만, 문제가 발생하면 브루커 회사와 전 세계 대표들이 귀하의 요구에 신속하게 대응할 준비가 되어 있습니다. 전문 설비와 높은 수준의 포스트 딜리버리 서비스는 브루커 옵틱스가 각 고객에게 약속하는 것입니다. 다양한 서비스 계약 패키지 외에도 원격 진단이 포괄적인 지원을 위해 제공됩니다.
정기적인 고객 교육 외에도 고객의 필요에 따라 전용 사내 세미나 및 현지 지원을 예약할 수 있습니다.
