MATRIX-F
ハイライト
FT-NIR プロセスモニタリング
現在、多くのメーカーでは、最終製品の高品質化だけでなく、研究室の分析技術を工場に導入し、製造効率の向上に努めています。製造工程をより厳密に管理することで、原材料の使用を最適化し、規格外の製品の生産を減らしたり、排除したりすることが可能となり、再処理や廃棄コストを回避することが可能となります。
FT-NIRによるオンラインでのリアルタイム分析の利点は十分に確立されています。しかし、従来の分光計は、監視しているプロセスの近くにしか設置できないため、急激な温度変化やほこりや汚れにさらされる状況でした。さらに、装置はアクセスしにくく、しばしば防爆保護された場所に設置する必要がありました。
光ファイバー技術を使用することで、装置本体を計器室などに置いたまま、本体そのものの設置が困難な測定ポイントにも光ファイバープローブによりアクセスすることができます。ブルカーは、オンライン分析の様々な要求に応える完全なソリューションを提供しています。
一般的なプロセス制御アプリケーションには、化学反応の直接モニタリング、中間製品や最終製品の品質モニタリングなどがあります。
- プロセスリアクターやパイプライン、ウェブやコンベヤーベルト上での直接測定。
- 長距離の遠隔測定
- プロセスの理解と制御の向上。
- 様々な産業における混合プロセスの均一性、化合物の濃度、重合プロセスの状態を決定するための理想的なツールです。
実用性は無限大
MATRIX-F システムは、光ファイバーテクノロジーにより、1 台のスペクトロメータで物質の測定を接触法、あるいは非接触法で可能にする唯一の近赤外分光計です。
- 光ファイバープローブ：測定部に取り付けるプローブは、一般的な拡散反射プローブ、透過反射プローブ、様々な光路長の透過プローブ、さらにはプロセスフローセルやパイロットプラントアセンブリー等からお選び頂けます。その材質についても、ステンレス鋼やハステロイなど、様々なニーズに対応可能です。
- 非接触測定用ヘッド： 非接触測定用ヘッドには検出器とサンプル照射のためのタングステンランプ光源が装備されています。サンプルからの拡散反射光は、光ファイバーケーブルを経由してMATRIX-F に導かれます。非接触かつ遠隔での測定が可能なため、様々な新しい用途が広がります。さらに、1 台のMATRIX-F emission またはMATRIX-F duplex に、最大6 台のヘッドを同時接続することも可能です。
MATRIX-F：
フローセルや従来のプローブヘッドを装備した光ファイバーの接続が可能な、ベーシックモデル。固体および液体に最適。
MATRIX-F emission:
非接触測定用ヘッドとの接続に最適化された、MATRIX-Fの非接触測定専用バージョン。
MATRIX-F duplex:
従来の光ファイバープローブと非接触測定用プローブを同時に使用できる、MATRIX-Fの拡張バージョン。
MATRIX-F 防爆バージョン
MATRIX-F は、以下の規格に準拠した、ATEX 認定の防爆バージョンも用意されています。
- II 2G Ex px II T6 Gb
- II (1) G [Ex op is T4 Ga] II C
特長
最先端の技術
MATRIX-F は、過酷な環境にも耐える、プロセス用近赤外分光計です。
コンパクトなボディに最先端の光学系を装備し、卓越した感度と安定性を常に発揮します。その革新的な設計により、高精度な分析結果、ダウンタイムの短縮、分析メソッドのダイレクト移設を実現しています。また、他の装置では対応できない新たな用途にも対応できます。業界標準の通信プロトコルを完全にサポートしているため、統合も簡単です。
MATRIX-F を、まず分析メソッドの開発のために試験室に設置し、その後、プロセス用途に移動させることもできます。また、NEMA 4/IP66 防沫筐体を使用する独立型として、あるいは温度調節付きキャビネット内の標準19 インチラックに取り付けて使用することも可能です。さらに、MATRIX-F に6 ポート光ファイバーマルチプレクサーを装備することもできます。
- 数秒で正確なインライン結果取得
- 測定ごとに複数のコンポーネント
- 非破壊分析
- オプションの内蔵6ポートマルチプレクサー
- ダイレクトメソッド転送
- 頑丈なデザイン
- イーサネット接続と業界標準の通信プロトコル
手間のかからないメンテナンス
MATRIX-F は、信頼性が高く、簡単にメンテナンスできるように設計されています。消耗品の交換もユーザーご自身で可能で、すべてアライメント済みのマウントに取り付けられているため、交換後の再調整は不要です。すべての作業は短時間で行えるため、製造プロセスの混乱やダウンタイムを最小限にとどめることが可能です。
システムバリデーション
MATRIX-Fには、装置性能テストのための標準物質とフィルターを収容する自動フィルターホイールが装備されています。OVP (OPUS Validation Program) ソフトウェアは、一連の性能テストを実行し、装置の性能を評価し、装置の仕様が基準を満たすことを確認します。性能テストは製薬業界では不可欠です。
接続性
CMET ソフトウェアは、4-20 mA、Modbus、Profibus DP、OPC など標準通信インターフェースとプロトコルに対応し、OPUS を任意のプロセス制御環境に統合できる業界標準インターフェース(OPC) に対応しています
詳細
資料ダウンロード
当社のFT-NIR分析装置とソリューションの詳細については、こちらから資料をご確認頂けます。
サポート
アプリケーションサポート
Bruker Opticsは、計測器とアプリケーションの詳細なノウる深い情報を持つ専門家の科学者やエンジニアが配置されています。当社の製品スペシャリストは、リモートまたはラボでのメソッド開発を支援します。
さらに、力量光学は近红外光谱分光法の世界への参入を容易にする、すぐに使用できるキャリブレーションの配列を提供しています。
サービスとトレーニング
ブルカー光学分光計は、信頼性の高いトラブルフリー操作の年を提供するように設計されていますが、問題が発生した場合、世界中のBruker企業や代表者のネットワークは、迅速にあなたのニーズに対応する準備ができています。プロフェッショナルな設備と高いサービスのポスト・デリバリー・サービスは、Bruker Opticsが各顧客に対して行うコミットメントです。さまざまなサービス コントラクト パッケージに加えて、リモート診断機能を使用して包括的なサポートを受け付けています。
お客様の定期的なトレーニング以外にも、社内での専用セミナーや現地サポートを、ニーズに合わせて手配できます。