FT-IR / FT-NIR过程光谱仪

FT-NIR解决方案的优势主要体现在常规工艺应用上。由于测量时间短，重要的工艺参数监测和控制几乎可以立即获得。各种各样的探头或流单元允许在几乎所有工艺条件下使用近红外技术。MATRIX-F及其内部6多路复用器提供了一种使用标准SMA连接器连接光纤耦合测量附件的简单方法。

通过简单的峰分析和趋势监测，FT-IR解决方案证明了其优势，特别是在工艺开发和优化方面。目前主要的应用是在实验室中进行试验。MATRIX-MF可以配备各种探测器和探针，并适应工艺应用的特定要求。Bruker公司的高性能FT-IR干涉仪可用于OEM定制集成。

在化工、石化和聚合物工业以及食品、饲料和制药生产过程领域的众多装置证明了我们的经验。

所有布鲁克过程光谱仪的特点是坚固耐用，长期稳定，易于维护。