植物，土壤和肥料

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一种特定植物或作物的生长状况在很大程度上取决于土壤的肥力。为了获得完整的图像，需要评估碳、氮和硝酸盐等参数，但也需要评估某些金属。另一方面，必须避免污染物。Bruker的光谱学解决方案可以在实验室或现场进行快速分析。

XRF是一种快速、无损的元素分析技术，用于分析整个植物系统的宏观营养素、微量营养素和重金属，包括种子、土壤、灌溉、肥料、根系和芽系统。Bruker的Elemental Analyzer组合包括高通量的实验室ED-XRF和WD-XRF,傻瓜手持式光谱仪，micro-XRF和超痕量分析TXRF光谱仪。

Bruker提供了广泛用于土壤分析应用的FT-IR和FT-NIR光谱仪。FT-NIR光谱学为分析土壤全碳和全氮提供了一种快速且经济的工具，这两个参数有助于更好地理解和管理施肥效应。

红外光谱法越来越多地作为传统土壤测试方法的补充和替代，用于估计许多土壤功能特性和植物特性。

近红外可以测量更大的样品体积，对样品制备的要求更低。虽然MIR需要研磨至细颗粒，但它通常可以实现更精确的校准，并适用于更多的参数。

可以监控的参数示例:

虽然FT-NIR光谱学主要用于分析有机物，也可用来确定矿物质的浓度，因为它们对吸水带的形状有影响。因此，在例如颗粒氮磷钾肥料中，可以测定全氮、全磷和水溶性钾的含量。除了总和参数(如总氮)外，还可以确定单个成分，如铵态氮或硝态氮等。此外，还可以根据基质和浓度来测定添加的矿物质或元素，如钙或镁。

对于粒状肥料的生产，有几个测量点是可取的，以便在原料进入生产过程之前测试其成分，以及混合或造粒后的最终产品，以确保最佳的产品控制。这些测量点可以使用多通道进行监视过程FT-NIR谱分析。

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