岩石学、地球化学和岩石特征

岩石学特征

布鲁克分析工具允许在厘米到亚微米尺度上表征地质材料。bob综合游戏从独立的仪器到扫描电子显微镜的探测器，对样品中的矿物学、结构和地球化学分布的基本理解从来没有像现在这样强大。

矿物与结构表征

石榴石云母片岩的AMICS矿物图

岩石内部矿物空间分布的准确识别和描述为理解岩石形成的基本过程提供了基础。根据任务的不同，可能需要对手样、单粒和亚粒尺度进行表征，并需要将矿物化学与结构关系联系起来。布鲁克产品跨越了这些规模和数据需求，产品包括:

M4龙卷风和M4龙卷风⁺允许快速绘制最小制备样品的地图，以确定固体和颗粒样品中的矿物种类和结构分布，并将矿物化学测量至ppm水平
全税用于扫描电子显微镜的探测器，包括EDS,单词和EBSD，提供亚微米级固体样品的全面结构和成分数据
友人自动矿物学解决方案扫描电子显微镜和微xrf，推动快速矿物识别和表征，广泛应用于地球科学和地质工程
D2移相器,D8发现和D8预付款一系列X射线衍射解决方案，涵盖从小型台式仪器到高分辨率单晶表征的所有应用和需求。
天空扫描1275和天空扫描1273x射线显微镜能够可视化和定量三维矿物分布在固体和颗粒样品

空间分辨地球化学

微x射线荧光光谱在手样尺度上的空间解析地球化学

M4龙卷风µX射线荧光图。3.0ga叠层石；视野为60厘米宽

岩石中主要、次要和微量元素的可视化支持了我们对许多地质过程的理解。通常局限于薄层或更低的尺度，大样本中地球化学分区的快速表征为进一步的研究提供了额外的背景，允许对其他分析方法进行更可靠的次采样决策，并可能减少用更昂贵的技术分析的样本总数。布鲁克的可视化地球化学产品包括:

M4龙卷风微xrf提供了大样本的地球化学制图和检测，可精确描述任何固体样品的地球化学分布，并通过整合地图数据对整体地球化学进行量化。
M4龙卷风⁺是一种用于增强轻元素检测的微xrf，具有大面积的轻元素SDD探测器和在真空和He气氛下分析的能力，允许元素检测到C。
XTrace-QUANTAXmicro-XRF，升级了SEM，允许在同一台仪器上进行微量元素分析。当与Rapid Stage(模块化的基于压电的系统，可直接安装在标准SEM Stage上)结合使用时，可以使用XTrace进行高速映射。

Bulk-rock地球化学

用ED-XRF和WD-XRF研究块体岩石地球化学

全岩地球化学是地质过程研究的重要组成部分，准确的主、次、微量元素化学是必不可少的。Bruker提供全方位的能量色散和波色散XRF解决方案，以满足每一个应用和分析需求。

示踪剂手持xrf和CTX便携式台式ED-XRF仪器提供便携和紧凑的解决方案，在可负担的预算，同时不损害性能
S2美洲狮高容量台式ED-XRF单元可以从C到Am分析，样品更换系统可容纳多达20个样品
S6捷豹紧凑的WD-XRF以紧凑的格式提供高性能的块体地球化学性能S8老虎连续的WD-XRF可在一次运行中进行主要和微量元素分析。

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岩石年代学

BSE衬底上辅助矿物的AMICS图像

我们对地质过程的理解进展表明，了解岩石中可测年矿物的结构背景是必要的，并从中获得益处。通常用于地质年代学的矿物都是附件——细粒度和低丰度——这导致在薄片或矿物分离中定位这些矿物需要花费大量精力和资源。基于Micro XRF和SEM的自动化矿物学解决方案可以加快这一过程，正确识别矿物并将其置于纹理矿物学环境中。