半导体和纳米技术

先进电源(GaN & SiC)

先进的能力

Bruker HRXRD / XRR系统是表征先进电力系统(如硅上GaN和SiC)的首选系统。它们在世界各地的生产线上被用于薄膜厚度、成分和质量的测量，以确保布鲁克客户的高产量。

选择你感兴趣的领域

先进的能力

GaN on Si功率器件计量

一套完整的计量已经开发用于硅上的氮化镓应用。

学习更多在这里

先进的能力

Sic Defectivity

x射线衍射成像(XRDI，也称为x射线形貌成像)和微xrf用于成像和可视化完美(或接近完美)衬底的晶体缺陷。

学习更多在这里