半导体和纳米技术

高级电力（Gan＆SIC）

高级功率

Bruker HRXRD / XRR系统是表征高级功率系统（例如Si和SiC）的选择系统。它们在世界各地的生产线中用于测量膜厚度，成分和质量，以确保Bruker客户的高收益。

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gan on Si Power设备计量学

已经为SI应用程序开发了完整的计量套件。

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SIC缺陷

X射线衍射成像（XRDI，也称为X射线地形）和Micro-XRF用于在原本完美（或接近完美）底物中形象和可视化晶体缺陷。

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