Mapeo de lavariaciónenel grosor de capas
La Muestra，Dos Electrodos en unun ununsustrato de vidrio，es un dispositivo de prueba para laelecterólisisfotoinducida。Se compone de una monocapabimetálogacon un gradiente de pensiente de lo largo de la de la corlackie。El sustrato de vidrioestárecubiertopormagnetróndoblecu-al-target。
como lasradiografíaspueden pasar atravésde la Materia，Xrf en general Persite ladestrainacióndeespesores de capa。UTILIZANDOmicro-xrf，ElAnálisisde capas（尤其是Composición）se hace hace conbible con esoluciones espaciales en la es eScala del micrommetro。Elanálisisde capas se basa fuertemente en la la la lacuantificacióndeparámetros基金会atómicosy se puede mejorar metiante metiante el uso de Muestrasestándar。por lo tanto，los sistemas de capas“ comunes”，科莫·洛斯（Como los ofubrimientos enepig），洛斯（Los ofubrimientos enepig），洛斯（Los ofubrimientos Znni）Entorno de i+d。
toda elÁreade Muestra de 5 x 5 cm2 fue mapeada con una con unaisoluciónepacialepcacial de 50 ms con in tiempo de nempo deMediciónde50 ms porpíxel。la distribunun元素de los elementos de capa al y cu muestra claramente el Gradiente decompenteción。
Los Datos del Mapa se Cuantificaron para el espesor de cu：al en si con un binning de 5x5píxeles（con Una unaresoluciónde250 m para elAnálisisde expesor de capa）。没有干草Muestras de coreencia para estos nuevos sistemas de Muestras。Con Ello，lacuantificaciónseBasóenparámetrosy los y los concidieron bien con las con las the las trawitativas del Fabricante。