Quantax WDS
Wavelength Dispersive Spectrometry for SEM
出色的光谱分辨率
提高分析精度和精度
LoMásDestacado
〜4
ev
FWHM用于SI-Kα
超出数量级的优质能量分辨率
<100
ppm
Detection limit for numerous elements
高痕量元素的准确性和精度
> 900
cps/nA
多层80Å的C-Kα计数率
High sensitivity for low-energy X-rays
通过电子探针微分析仪的优势补充您的SEM
- SEM的Quantax WDS（WDX）由XSENSE波长色散光谱仪组成，在所有平行梁WDS系统中得出最佳分辨率。由于平行梁的设计，大的实体角度与基于罗兰圆的WDS光谱仪相比，低能X射线的信号强度更高。
- WDS特征的高信噪比通过抑制背景人工制品的唯一二级视神经进一步增强。
- Quantax WDS配备了最好的放牧发射率和最多六个分析仪的晶体，对从70 eV向上的低能X射线具有较高的灵敏度。
- 巧妙的自动视频对准系统和独特的压力控制比例计数器可确保准确且可重现的结果。
- Flexible adaptation to either a WDS or EDS port.
受益人
WDS on SEM – a Perfect Solution for Demanding Analytical Applications
- 解决常见的ED峰重叠，例如TA-W-SI，PB-S或MO-S
- 探索低能X射线线系列（L，M，N）
- 检查具有低加速电压的样品，以确保渗透深度最小
- 由于具有高的实体角，获得最高的CPS/NA
- Determine trace element concentrations far below the limits of detection of aneds
- Measure at low vacuum without the necessity of a conductive coating
- Save time on analytical measurements with a unique pressure-controlled proportional counter
- 确保光谱数据的空间精度以进行精确定量
- 通过同时进行WDS和EDS分析节省获取时间，将每个检测器的好处纳入合并的量化
