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电子显微镜分析仪
Quantax WDS
SEM的波长色散光谱法
出色的光谱分辨率
提高分析精度和精度
Punti Salienti
〜4
ev
FWHM用于SI-Kα
超出数量级的优质能量分辨率
<100
ppm
众多元素的检测极限
高痕量元素的准确性和精度
> 900
CPS/NA
多层80Å的C-Kα计数率
对低能X射线的高灵敏度
通过电子探针微分析仪的优势补充您的SEM
SEM的Quantax WDS(WDX)由XSENSE波长色散光谱仪组成,在所有平行梁WDS系统中得出最佳分辨率。由于平行梁的设计,大的实体角度与基于罗兰圆的WDS光谱仪相比,低能X射线的信号强度更高。
WDS特征的高信噪比通过抑制背景人工制品的唯一二级视神经进一步增强。
Quantax WDS配备了最好的放牧发射率和最多六个分析仪的晶体,对从70 eV向上的低能X射线具有较高的灵敏度。
巧妙的自动视频对准系统和独特的压力控制比例计数器可确保准确且可重现的结果。
灵活适应WDS或EDS端口。
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受益人
SEM上的WDS - 一种要求分析应用的理想解决方案
解决常见的ED峰重叠,例如TA-W-SI,PB-S或MO-S
探索低能X射线线系列(L,M,N)
检查具有低加速电压的样品,以确保渗透深度最小
由于具有高的实体角,获得最高的CPS/NA
确定轨迹元素浓度远低于检测的限制
eds
在低真空下测量无需导电涂层的情况
通过独特的压力控制比例计数器节省分析测量的时间
确保光谱数据的空间精度以进行精确定量
通过同时进行WDS和EDS分析节省获取时间,将每个检测器的好处纳入合并的量化
阅读有关ESPRIT 2软件的更多信息
Applicazioni
您的分析挑战是什么?
WDS的宝石分级和纯度控制
可以通过扫描电子显微镜(SEM)来完成宝石及其替代品的纯度控制。通过Bruker的超敏感波长 - 分散光谱法(WDS)实现高光谱分辨率分析,检测到杂质并鉴定出杂质
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半导体微芯片材料中的元素鉴定bob综合游戏
半导体材料中的元素鉴定是通过WDS技术置信度的较高能量分辨率,因此可以轻松解析能量峰bob综合游戏重叠。
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绘制斜长石中的微量元件分布
用Bruker的超敏感波长 - 分散光谱法(WDS)轻松确定矿物学样品中痕量元件的分布。
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在硫化物矿物质中解析X射线峰重叠
Galena是组成PBS的硫酸矿物质,并在立方晶体系统中结晶。
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铅酸电池的硫酸盐改变
可以使用SEM的波长 - 分散光谱技术准确地确定电池中化学阶段的识别和分布。
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钢铁的映射碳分布
WDS技术是理想的基于SEM的分析技术,用于准确测量钢中的碳含量并绘制其分布。
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网络研讨会
网络研讨会
2020年7月16日
使用SEM的Quantax WD对半导体和微电子的高级元素分析
我们将讨论SEM的WD的优势,用于分析半导体和相关的高科技工业产品,例如bob娱乐平台微电子学。
2019年4月25日
使用SEM的Quontax WD对地质样品的高级元素分析
WD的优势用于分析地质样本的SEM。
2021年3月23日
使用双源多探测器系统对钢和合金进行量化 - 第I部分:XRF-EDS和SEM-EDS分析
由于感兴趣的各种要素以及从专业到痕迹的各种浓度范围,钢和合金的量化可能会出现问题。这两个部分的网络研讨会将显示使用双光束系统的好处,即具有电子和Micro-XRF源的系统。
Maggiori Informazioni
资源
手册和申请笔记
Quantax WDS手册
电子显微镜分析仪小册子
升级Esprit Win10
应用注释WDS 04-钢中的微量元素
申请注释WDS 03-斜长石的锶
申请注释WDS 02-铅电池的分析
申请注释WDS 01-高光谱分辨率申请
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