电子显微镜分析

QUANTAX改进算法

扫描电镜波长色散光谱法

杰出的光谱分辨率

提高分析精度和精密度

QUANTAX改进算法

Destaques

~ 4
电动汽车
应用为Si-Kα
超高的能量分辨率超过一个数量级
< 100
ppm
对许多元素的检测极限
微量元素精度和精密度高
> 900
cps / nA
计数率的C-Kα与80 Å多层
对低能x射线的高灵敏度

补充你的SEM与电子探针微分析仪的好处

  • 用于扫描电子显微镜的QUANTAX WDS (WDX)由XSense波长色散光谱仪组成,在所有平行光束WDS系统中具有最好的分辨率。由于平行光束设计,大立体角使得低能量x射线的信号强度比基于罗兰圈的WDS光谱仪高得多。
    • 高信噪比是WDS的特点,进一步增强了独特的二次光抑制背景伪影。
      • 配备了最好的掠入射光学和多达6个分析晶体,QUANTAX WDS对70 eV以上的低能x射线具有卓越的灵敏度。
        • 一个巧妙的自动光学对准系统和独特的压力控制比例计数器,确保准确和再现的结果。
          • 灵活的适应一个WDS或EDS端口。

          锻炼耐力

          扫描电镜上的WDS -苛求分析应用的完美解决方案

          • 解决常见的EDS峰重叠,如Ta-W-Si, Pb-S,或Mo-S
          • 探索感兴趣的元素的低能x射线线系列(L, M, N)
          • 检查低加速电压的样品,以确保最小的穿透深度
          • 获得最高的cps/nA,由于高立体角,使轻元素研究从Be到F在整个浓度范围内
          • 测定远低于检出限的微量元素浓度EDS
          • 在低真空下测量,不需要导电涂层
          • 采用独特的压力控制比例计数器,节省分析测量时间
          • 确保光谱数据的空间精度,以进行精确的量化
          • 通过同时进行WDS和EDS分析,节省了采集时间,结合了每个检测器的优点