显微镜下的文化遗产：通过扫描电子显微镜进行高级元素分析的细节

通过扫描电子显微镜进行高空间分辨率分析是分析工作流程的基本组成部分，对于对艺术作品和文化遗产对象进行的任何完整研究至关重要。在研究以宏观量表开始的地方，非侵入性技术这种微XRF映射允许对以手术精度进行的最小样品进行SEM分析，以最大程度地提高结果。此外，检测器技术的进步使元素表征通过SEM在更高的灵敏度下更快地降低了对有价值材料的额外损害，同时提供了比以往更容易访问的柔性配置。bob综合游戏

本网络研讨会将使用SEM介绍文化遗产样本的微分析示例，以说明Bruker的能力XFLASH®检测器范围， 包括Xflash^®扁平环形SDD EDS检测器，Quantax紧凑型EDS检测器用于紧凑的SEM平台，Xtrace In-Sem Micro-XRF（Quantax Micro-XRF）。