纳米力学测试

Hysitron XPM.

定量,超高速机械性能测绘

500倍较快的纳米凸缘

Bruker的XPM在纳米机械测试通量与测量分辨率和准确性配对的纳米机械测试吞吐量方面设置了新的行业标准。通过XPM,可以使用传统的纳米凸化方法在一整年内收集更多数据。这些独家性能功能是通过三个行业领先的Hysitron技术的耦合来实现的:高带宽静电致动换能器,快速控制和数据采集电子设备,以及自上而下的原位SPM成像。这些同步技术可以每秒执行6个纳米凸缘测量,以实现综合定量纳米力学属性图和物业分布统计量在记录的时间内。

快速映射,具有强大的机械性质分布统计

陶瓷矩阵复合模量贴图在67秒(左)中由400次测量组成。陶瓷矩阵复合模量分布统计(右)。

专门开发了纳米力学测试以测量高度局部的机械性能。各个测量阵列可以在空间上布置并绘制以在表面上产生机械特性梯度的地图。保守地,传统的纳米凸起测量需要〜90秒,并且20×20阵列需要10个小时才能完成。利用Bruker的新Hysitron XPM超快速物业映射,可以仅在1.1分钟内编译相同的数据集!