Hysitron XPM

布鲁克（Bruker）的XPM在纳米力学测试吞吐量与测量分辨率和准确性方面设定了新的行业标准。使用XPM，一个下午可以使用的数据比使用传统的纳米构造方法在一年中收集的数据更多。通过三种行业领先的荧光技术的耦合：高带宽静电驱动的传感器，快速控制和数据采集电子设备以及自上而下的Situ SPM成像。这些同步技术每秒可以执行6个纳米引导测量，以在创纪录的时间内实现全面的定量纳米力学属性图和属性分布统计。