Hysitron XPM

Bruker的XPM在纳米机械测试吞吐量、测量分辨率和精度方面设定了一个新的行业标准。使用XPM，一个下午所采集的数据比使用传统纳米压痕方法一整年所收集的数据还要多。这些独特的性能能力是由三种行业领先的Hysitron技术实现的:高带宽静电驱动传感器，快速控制和数据采集电子设备，以及自上而下的原位SPM成像。这些同步技术可以在创纪录的时间内每秒进行6次纳米压痕测量，实现全面定量的纳米力学性能图和性能分布统计。