Hysitron XPM

Bruker的XPM在纳米机械测试吞吐量、测量分辨率和精度方面设定了新的行业标准。使用XPM，一个下午可以获得的数据比使用传统纳米缩进方法一整年收集的数据还要多。这些独特的性能能力是通过三种业界领先的Hysitron技术的耦合实现的:高带宽静电驱动传感器，快速控制和数据采集电子设备，以及自上而下的原位SPM成像。这些同步技术可以每秒进行6次纳米压痕测量，在创纪录的时间内实现全面的纳米力学性能定量图和性能分布统计。