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高分辨率AFMs具有挑战性的研究
随着原子力显微镜作为一种先进材料研究的主要技术进入了第四个十年，它的高分辨率数据已经被用于推动几乎无数学科和应用的发现。bob综合游戏自20世纪80年代引入首个商用系统以来，Bruker一直在领导AFM能力的扩展。随着技术的成熟，AFM让科学家们有机会在越来越复杂的样品上刻画特征，而不仅仅是在地形上。我们致力于帮助您做得更多，做得更容易，使Bruker AFMs保持在仪器创新的最前沿。例如，Bruker AFMs，完全由PeakForce tap驱动®技术正在帮助研究人员推进新的纳米力学、纳米电学和纳米电化学研究，平均每天发表三篇同行评议的论文。
AFM模式
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布鲁克拥有一套无与伦比的成像模式，可以为每项调查提供AFM技术。
bruker基于核心成像模式(接触模式和敲击模式)的主干，提供AFM模式，允许用户探测其样品的电、磁或材料特性。bob综合游戏布鲁克创新的新型PeakForce tap技术代表了一种新的核心成像范式，该范式已被整合到多个模式中，同时提供地形、电气和力学性能数据。
Применения
画廊的应用程序
闭环，共规聚丙烯在TappingMode, 5μm。Подробнее
间规聚丙烯结晶动力学研究。原始聚合物从室温(左)快速加热到160°C完全熔化状态。在128°C高温等温结晶促进了条件的平衡，形成了比原来更大的片层晶体。右图显示101min时的部分结晶。
C36H74烷烃在HOPG上的图像。单个片层清晰可见，间距(~4.5nm)与C36H74链的长度一致，完全展开构象。
利用TR-TUNA, 1μm测量单壁碳纳米管松散地附着在Au-patterned silicon上的同时形貌和电导率。
使用Peakforce qnm（pfqnm）在液体中成像的方解石晶格中的原子缺陷。贝德皮格，博士收购的数据。
在精细的分子层上显示出最高分辨率的TappingMode图像，揭示了甲醇在HOPG上的自组装分子结构。三幅图像显示间距为5nm的0.5nm步长和人字形图案，以及0.5nm的分子间距(小图像比例尺为3nm)。排列的长度比例表明甲醇分子倾斜的角度不同。250nm扫描的垂直比例尺为1nm。图像由Bede Pittenger博士获得。
铝硅酸盐玻璃的Peakforce攻丝图像在空气中的工业样品上展示了最高分辨率。bob娱乐平台保持尖端清晰度是关键。随后扫描的盲尖重建显示尖端半径约为1nm，表示在该具有挑战性的样本上的尖端磨损可忽略不计。全图像扫描尺寸5um，5000x5000像素。Peakforce设定值600pn，FastScan B探测。由水清胡，博士收购的图像。
这张在HOPG上以金枪鱼模式生成的地图显示了间距为0.25nm的“晶格分辨率”。传统上，STM需要在当前映射中实现这种分辨率。PeakForce TUNA应用模块，PF-TUNA探头，60pA电流范围。高分辨率图像上的0.5nm比例尺。图像由Hartmut Stadler博士获得。
DCUBE-PFM测量清楚地显示了BiFeO3薄膜上每个离散像素在不同电位水平上的畴翻转。
利用XR纳米力学，以空间分辨率检测到聚合物链的亚分子单元的最小结构。iPMMA粘附的形象。
用损耗模量来表示样品表面的假着色。蓝色区域的损耗模量较高，红色区域的损耗模量较低，分别对应于PS基体和PMMA夹杂物。通过Bruker的FASTForce Volume纳米力学模式，接触共振生成损耗模量图。5µm扫描，~ 590kHz, 256x256像素。
石墨烯在六方氮化硼上的峰值力QNM模量图像，显示了高度局域应变缓解的对齐后向相称晶格的转变。参见自然物理10,451 - 456(2014)。
共规聚丙烯畴(紫色)被PMMA(蓝绿色)基质包围。用模数绘制的地形数据便于识别部件，揭示了通过PMMA基体传播的间规聚丙烯形成的片层。图像大小8µm。
垂直立置碳纳米管电流成像。只有PeakForce金枪鱼才有可能。
使用PeakForce-HR对聚合物刷结构进行成像。扫描尺寸1 μm在5赫兹。样品由北卡罗来纳大学教堂山分校的S. Sheiko提供。
PeakForce金枪鱼电流图聚(3-己基噻吩)(P3HT)有机导电纳米线使用3V偏压。图像显示3 μm扫描区域，电流从0到80 pA。
聚丙烯(sPP)和聚乙烯氧化物(PEO)共混成像PeakForce-HR(3µm, 5 Hz)。
模量图像显示了横断面包装材料的ULDPE粘结层与PS/LDPE密封胶层之间的微妙过渡。高空间分辨率的模量映射显示，来自连接层的片层作为成核位点渗透到密封胶中，并在距离界面1 μm的范围内增加片层有序度。图像大小3 μm。
垂直碳纳米管的地毯的高度（a）和电流（b）映射，用Peakforce金枪鱼获得，这是不可能用接触模式的图像图像。图像尺寸为1μm。
用PeakForce攻丝成像的云母基板在MM8 (15 nm扫描)上的原子分辨率高度和附着力。
用PeakForce QNM成像聚二乙基硅氧烷(PDES)的模量图。图像显示了一个3 μm的扫描区域，模量从1.5到15 MPa不等。
切口测试结构的闭环地形图，显示双大马士革战壕内的接触孔。Dimension扫描仪和Bruker FIB探头的结合，使这种具有挑战性的几何形状的测绘成为可能，而不会损坏探头尖端。
SRAM样品上准确的2D掺杂剂分析使用深色升降机SCM。图像尺寸15μm。
在液体中成像的云母上折纸dna的单个三角形自组装显示了单个链和连接点的精细结构。250nm闭环图像。样本由加州理工学院的P. Rothemund提供。
扫描硅DRAM单元的电容数据。由DC / DV测量提供的2D掺杂剂简档允许器件缺陷的可视化和临界参数的提取，例如栅极长度。此图像是以SCM /暗升力模式获取的，确保准确和无伪像掺杂剂映射。25μm闭环图像。
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