尺寸XR SPM | Bruker - bob综合客户端app,bob电竞官方网站,bob体育竞技风暴

Основныемоменты

维XR

布鲁克的尺寸XR扫描探针显微镜(SPM)系统结合了数十年的研究和技术创新。与常规原子缺陷解决，和一系列独特的技术，包括PeakForce tap^®， DataCube模式，SECM和AFM-nDMA，他们提供最大的性能和能力。Dimension XR系列SPMs将这些技术打包成解决方案，以解决纳米机械、纳米电气和电化学应用问题。在空气、流体、电气或化学反应环境中，bob综合游戏对材料和活性纳米级系统的量化从来没有这么容易过。

高光谱

nanoelectrical表征

包括最完整的电子AFM技术阵列，用于功能材料、半导体和能源研究的表征。bob综合游戏

子- 100 nm

电化学成像

为电池、燃料电池和腐蚀相关的局部电化学活性的定量分析提供最高分辨率的总解决方案。

开箱即用的

纳米机械分析

为相关材料的结构和纳米力学性能提供完全定量的、交钥匙的技术套件。bob综合游戏

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Особенности

使第一和唯一的AFM能力与最高的性能

高级研究的优化配置

XR Nanomechanics

XR纳米力学提供了一系列模式，以全面检测最小的结构，空间分辨率低至聚合物链的亚分子单元。研究人员使用我们专有的AFM-nDMA™模式将纳米力学数据与大块DMA和纳米印迹方法关联起来。从软粘水凝胶和复合材料到硬金属和陶瓷，实现可量化的纳米尺度表征。

XR Nanoelectrical

尺寸XR纳米电结构涵盖了单个系统中最广泛的电AFM技术阵列。研究人员利用专有的DataCube模式捕捉每个像素的电光谱，这些电光谱与机械性能测量相关。该系统提供以前无法从单一测量中获得的信息。

XR Nanoelectrochemical

纳米电结构可以实现基于AFM的扫描电化学显微镜(AFM- secm)和电化学AFM (EC-AFM)。AFM操作员以<100 nm的空间分辨率获取电化学信息，并在单个系统中同时进行电化学、电和机械映射。

所有模式，所有环境的最高分辨率

从液体中的点缺陷和刚度映射到空气中的原子分辨率和电导率映射，Dimension XR系统在所有测量中提供最高的分辨率。他们利用了布鲁克的所有权PeakForce攻实现硬物质和软物质性能基准的技术，包括聚合物中的晶体缺陷分辨和分子缺陷。同样的技术在成百上千幅图像上的磨砂玻璃上的最小的粗糙表面上发挥着同样重要的作用。该系统结合了PeakForce tap的极端稳定性，独特的探头技术，以及布鲁克在尖端扫描创新方面数十年的经验。结果是一致的最高分辨率成像，完全独立于样品大小，重量，或介质-并适用于任何应用。

革命AFM-nDMA

四组分(COC, PE, LLDPE，弹性体)聚合物的高分辨率存储模量图(左)。在单个点收集的存储模量光谱(右)。

AFM首次可以在纳米尺度上提供完整和定量的聚合物粘弹性分析，探测材料在线性范围内流变相关频率。bob综合游戏专有的双通道检测、相位漂移校正和参考频率跟踪使得在流变相关的0.1 Hz至20 kHz范围内进行小规模应变测量成为可能，用于存储模量、损耗模量和损耗正切的纳米尺度测量，这些测量直接与批量DMA联系在一起。

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专有DataCube模式

这些模式使用FASTForce体积使用用户定义的停留时间在每个像素中执行力距离谱。使用高数据捕获率，在停留时间内执行大量的电测量，导致每个像素的电和机械光谱。DataCube模式在单个实验中提供完整的表征，这在商业AFM中是闻所未闻的。

Dimension XR的DataCube模式提供每个像素的多维纳米级信息，同时在一次测量中捕获电气和机械特性。

DCUBE-PFM测量清楚地显示了BiFeO3薄膜上每个离散像素在不同电位水平上的畴翻转。

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独家PeakForce SECM

(A)布鲁克独家预安装的PeakForce SECM探头提供了简单和安全的处理，以及在数小时的成像和多次清洗周期中极其稳定的性能。(B)探针的SEM图像;(C) 10 mM [Ru(NH3)6]3+剖面的COMSOL模拟;(D)以20 mV/s的扫描速率从50次连续扫描中选择第1、25和50个CVs;(E) 2小时安培测试，在-0.1 V对AgQRE，插入放大从70到120分钟;(F)模拟(虚线)和实验(实线)逼近曲线。C和E图像由C. Xiang和Y. Chen提供。

在空间分辨率小于100纳米的情况下，该模式重新定义了在纳米级可视化液体中的电气和化学过程。PeakForce SECM与传统方法相比，分辨率显著提高了几个数量级。这使得能源存储系统、腐蚀科学和生物传感器的全新研究成为可能，为对单个纳米粒子、纳米相和纳米孔的新颖测量打开了大门。只是，PeakForce SECM提供了纳米尺度横向分辨率的地形、电化学、电和机械地图的同时捕获。

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Применения

AFM模式

使用AFM模式扩展您的应用程序

布鲁克拥有一套无与伦比的成像模式，可以为每项调查提供AFM技术。

bruker基于核心成像模式(接触模式和敲击模式)的主干，提供AFM模式，允许用户探测其样品的电、磁或材料特性。bob综合游戏布鲁克创新的新型PeakForce tap技术代表了一种新的核心成像范式，该范式已被整合到多个模式中，同时提供地形、电气和力学性能数据。

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维度XR数据库

在精细的分子层上显示出最高分辨率的TappingMode图像，揭示了甲醇在HOPG上的自组装分子结构。三幅图像显示间距为5nm的0.5nm步长和人字形图案，以及0.5nm的分子间距(小图像比例尺为3nm)。排列的长度比例表明甲醇分子倾斜的角度不同。250nm扫描的垂直比例尺为1nm。图像由Bede Pittenger博士获得。

这张PeakForce攻丝铝硅酸盐玻璃的图像在空气中的工业样品上显示了最高的分辨率。bob娱乐平台保持刀尖的锋利是关键。随后扫描的盲针尖重建显示，针尖端半径约为1nm，表明在这个具有挑战性的样品上，针尖磨损可以忽略不计。全图像扫描尺寸为5um, 5000x5000像素。600 pn PeakForce定位点。FastScan B调查。图像由胡水清博士获得。