Micro-XRF光谱仪

M4龙卷风+

微xrf中的超轻元素

XRF映射到碳

He-Purge用于敏感样品

BRUKER M4 TORNADO PLUS - x射线荧光光谱仪扫描超轻元素

母亲是żniejsze informacje

最低可检测的元素
从碳开始的所有元素都可以测量
> 6
毫米
AMS的聚焦深度
孔径管理系统(AMS)允许地形样品的清晰图像
0.5 - -4.5
毫米
可选择的准直器尺寸
附加管上的四位置准直器变换器

革命性的超轻元素微型xrf扫描仪

有了最新型号的布鲁克的微型XRF家族,您可以找到更多关于您的样品比XRF以前向您显示。

M4 TORNADO PLUS拥有超轻元素探测器,是第一个能够测量碳以上元素的微xrf扫描仪。此外,所有轻元素的性能都大大提高。

在这台仪器上,布鲁克引入了专利孔径管理系统(自动对盘及成交系统),以增强聚毛细透镜的聚焦深度,以便对不均匀样品进行更清晰的元素映射。可选的第二x射线源进一步扩展了分析能力,其四个可选择的光斑尺寸从0.5毫米到4.5毫米。

更轻、更快、更深。

M4龙卷风家族的房间提供了一个他冲水的选择。这增加了轻元素的性能,同时保持了舱内的大气压力。生物或湿样品中的轻元素可以在不需要冷冻或干燥样品的情况下进行分析。

M4 TORNADO PLUS:超轻元素微xrf光谱仪

Korzyści

得益于PLUS的分析性能

  • 测量固体,颗粒或液体的所有优势,经过良好验证的M4 TORNADO家族必须提供
  • 通过记录光谱、线扫描和从碳开始的完整元素范围的地图,扩展您的微xrf经验
  • 在HyperMap数据立方体中记录并保存每像素的光学图像和完整光谱信息的组合
  • 通过聚焦x射线束与两个高通量超轻元素SD探测器的组合,减少您的测量时间
  • 使用可配置的基本参数例程获得快速量化结果,或使用布鲁克的XMethod软件进行标准支持的、完全基于标准的层厚度量化
  • 利用孔径管理系统(自动对盘及成交系统
  • 在仪器的整个生命周期内,通过升级和服务套件来提高性能bob电竞官方网站

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资源和出版物