Micro-XRF光谱仪

M4 Tornado Plus

Micro-XRF中的超光元素

XRF Mapping Down to Carbon

He-Purge用于敏感样品

Bruker M4龙卷风加µ-XRF光谱仪扫描超光元件

Destaques

Lowest detectable element
从碳开始的所有元素都可以测量
>6
mm
与AMS的重点深度
孔径管理系统(AMS)允许在地形样品上进行清晰的图像
0.5-4.5
mm
Selectable collimator sizes
Four-position collimator changer on the additional tube

革命性的超轻质元素Micro-XRF扫描仪

借助Bruker的Micro-XRF家族的最新模型,您可以比以前向您展示的更多有关样本的信息。

With its super-light element detectors, the M4 TORNADO PLUS is the first micro-XRF scanner able to measure any element from carbon upwards. Additionally, the performance of all light elements is strongly increased.

在此工具上,布鲁克引入了专利的光圈管理系统(AMS),增强了多毛透镜的焦点深度,以换取不均匀样品的清晰元素映射。可选的第二X射线源进一步扩展了分析能力,其四个可选斑点尺寸从0.5到4.5毫米。

Lighter, Faster, Deeper.

M4 Tornado家族的商会为He-Flush提供了选择。这增加了光元素的性能,同时保持腔室中的大气压力。可以分析生物或湿标本中的光元素,而无需冷冻或干燥样品。

M4 Tornado Plus: Super-Light Element micro-XRF spectrometer

Benefícios

从分析性能中受益

  • 测量具有所有优势的固体,颗粒或液体良好的M4龙卷风家族必须提供的
  • Extend your micro-XRF experience with the ability to record spectra, line scans and maps of the complete element range starting at carbon
  • Record and save a combination of optical image and full spectral information per pixel in a HyperMap data cube
  • 通过聚焦X射线梁与两个高通量超光元件SD探测器的组合减少测量时间
  • 使用可配置的基本参数例程获得快速量化结果,或使用Bruker的Xmethod软件进行标准支持的,完全标准的基于标准的和层厚度量化
  • Map uneven samples at high depth of focus using the aperture management system (AMS
  • 在乐器的整个生命周期中,通过升级和服务套件提高性能bob电竞官方网站

MaisInformações

Resources & Publications