微XRF光谱仪

M4龙卷风加

Micro-XRF中的超轻元素

XRF映射到碳

他吹扫敏感样品

Bruker M4 Tornado Plusμ-XRF光谱仪扫描超轻元件

Punti Salienti.

最低可检测的元素
可以测量从碳开始的所有元素
> 6
毫米
与AMS的焦点深度
光圈管理系统(AMS)允许在地形样本上进行锐利图像
0.5-4.5
毫米
可选择的准直器尺寸
附加管上的四位置准直器变换器

革命性超轻元件Micro-XRF扫描仪

通过Bruker的Micro-XRF系列最新模式,您可以了解更多关于您的样本的信息,而不是XRF以前向您展示过。

M4 TORNADO PLUS拥有超轻元素探测器,是第一个能够测量碳以上任何元素的微xrf扫描仪。此外,所有轻元素的表现都得到了强烈的提升。

在该仪器上,Bruker介绍了专利的孔径管理系统(自动对盘及成交系统)增强了多百分子镜片的焦点,用于不均匀样品的更高元素映射。可选的第二X射线源进一步扩展了分析能力,其四个可选点尺寸为0.5至4.5mm。

更轻、更快、更深。

M4龙卷风家族的房间为他的冲洗提供了选择。这增加了轻质性性能,同时保持腔室中的大气压。可以分析生物或湿标本中的光元素,而无需冻结或干燥样品。

M4 TORNADO PLUS:超轻元素微xrf光谱仪

优惠

从分析性能中的优势中受益

  • 通过所有优势测量固体,颗粒或液体,验证的M4龙卷风家族必须提供
  • 扩展您的微xrf经验的能力,记录光谱,线扫描和地图的完整元素范围从碳开始
  • 在HyperMap数据立方体中记录并保存每像素的光学图像和全光谱信息的组合
  • 通过具有两个高通量超轻元件SD检测器的聚焦X射线束的组合降低测量时间
  • 通过可配置的基本参数例程获得快速定量结果,或使用Bruker的Xmethod软件进行标准支持的,完全标准的基于标准和层厚度量化
  • 利用孔径管理系统(自动对盘及成交系统的)
  • 在仪器的整个寿命中提高升级和服务包装的性能bob电竞官方网站

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资源和出版物