Xflash 6-100椭圆形
SEM，FIB-SEM和STEM-IN-SEM的高收集角度无窗户EDS系统
这个大面积，高收集角度，无窗eds具有椭圆形100毫米的检测器2SDD是针对SEM中的特定几何形状仔细定制的。独特的形状和最苗条的设计设计允许优化采集位置，从而在不损害SEM性能的情况下实现最高0.4 SR的X射线收集的实体角度。
总而言之，Xflash®6-100椭圆形提供以下优势：
- 100毫米2区域，无窗
- 固体收集角度高达0.4平方英尺，适应性变化
- 所有SEM类型的最大加速电压：30 KEV
- 起飞角通常为30°…35°
- 焊接的波纹管和X射线电密快门（可选）
- 非交流冷却系统
- 自动检测器撤回系统
- 优秀的轻元素和低能量性能
- 布鲁克多才多艺的所有优势分析软件
建议的Xflash申请领域®6-100椭圆形是：
ED在SEM，FIB-SEM和STEM中进行的高端元素分析，目的是：
- 低KV和光束敏感样品
- 光元素分析
- 高空间分辨率
- 快速数据采集