XFlash 6 - 100椭圆形
高收集角度无窗EDS系统的SEM, FIB-SEM和STEM-in-SEM
此区域面积大，采集角度高，无窗EDS100毫米椭圆形探测器2SDD是为SEM中的特定几何形状精心定制的。独特的形状和最先进的细线设计允许优化采集位置，在不影响扫描电镜性能的情况下，实现高达0.4 sr的x射线采集固体角度。
总之，XFlash®6-100椭圆形提供以下优点:
- 100毫米2区,没有窗户
- 固体收集角度高达0.4 sr，适应变化
- 所有SEM类型的最大加速电压:30 keV
- 起飞角度通常是30°…35°
- 焊接波纹管和防x射线快门(可选)
- 互不干扰的冷却系统
- 自动探测器收回系统
- 优良的轻元素和低耗能性能
- 布鲁克多才多艺的所有优点分析软件
XFlash的建议应用领域®6 - 100椭圆是:
SEM、FIB-SEM和STEM-in-SEM的EDS高端元素分析，旨在:
- 低kV和光束敏感的样品
- 光元素分析
- 高空间分辨率
- 高速数据采集