FT-IR / FT-NIR过程光谱仪

光谱学是当今过程在线监测和优化的重要方法。光纤耦合探头允许直接查看过程,没有延迟。

FT-IR / FT-NIR过程光谱仪

FT-NIR解决方案的优点主要是在常规工艺应用中。由于测量时间短,用于监测和控制的重要工艺参数几乎可以立即得到。各种各样的探针或流池允许在几乎所有工艺条件下使用近红外技术。MATRIX-F及其内部的6多路复用器提供了一种使用标准SMA连接器连接光纤耦合测量附件的简单方法。

FT-IR解决方案显示了其优势,特别是通过简单的峰分析和趋势监测的过程开发和优化。目前主要的应用是在实验室的试验性工厂。MATRIX-MF可以配备各种探测器和探头,并适应工艺应用的特定要求。IRcube - Bruker的高性能FT-IR干涉仪-可用于OEM定制集成。


在化工、石化和聚合物行业以及食品、饲料和制药生产过程中的众多安装都证明了我们的经验。


所有布鲁克过程光谱仪的特点是健壮,长期稳定,易于维护。