LCD屏幕和光电子学
故障分析
FT-IR显微镜对CMOS传感器的缺陷分析
光电设备的分析非常复杂，因为现代系统高度微型化，并由多种材料组成。bob综合游戏特别是微观污染的鉴定特别令人感兴趣，因为它们可能导致电子设备故障。揭示污染的起源并因此允许有效的故障排除是FT-IR显微镜。
它允许用户获得具有高横向分辨率的非常小的结构的IR谱，从而揭示了样品定义部分的化学成分。这使得FT-IR成为电子传感器和其他光电子学的质量控制和故障分析的必不可少的工具。它可以帮助表征缺陷，损害，污染等等。它甚至可以通过表征红外传感器来刺激产品开发。
质量控制
研究污染物在LCD面板与罗摩n Microscopy
显示，LED，LCD和更多的光电部件被聚合物的保护层层压，或者只是粘在GLAS表面上。在这两种情况下，意味着材料是透明的，bob综合游戏confocal Raman microscopy有能力看里面such assemblies.
通常，诸如颗粒，纤维，灰尘和污垢之类的非常小的污染物是造成这种损害的罪魁祸首。拉曼显微镜不仅可以找到这些显微镜杂质，而且可以化学识别它们以帮助发现这些产品缺陷的根本原因。将其用于损坏分析：
- Screen and LCD assemblies
- 触摸板
- Mounted sensors
Material Research
使用FT-IR的传感器和检测器表征
如今，探测器到处都是 - 在智能手机，温度计，相机，照明开关和许多其他设备中。但是，在这些探测器可以在我们的日常生活中开始工作之前，必须对它们进行彻底的特征和优化。
This is exactly where anFT-IR光谱仪可以广泛应用，检查探测器的三个基本参数：
- Spectral bandwidth of response (UV/VIS/IR/etc.)
- 响应所需的辐射功率
- 传感器响应时间
Applying FT-IR in the Development of VCSELs for Face Recognition
垂直腔表面发射激光器（VCSEL）是一种特殊的半导体激光二极管，与传统的边缘发射激光二极管不同，它垂直于芯片表面发射。这使它们易于包装，作为发射器阵列，单个芯片上有数百个发射器，然后可以将其放置在智能手机中（例如，用于面部识别）。
在VCSELS的分析中FT-IR光谱法与辐照传感器和快速光二极管相比，事实证明是一种优越的方法。许多优点之一是确定排放光谱的可能性。当前，研究的重点是表征VCSEL的方法，以支持基础研究中VCSEL的理论建模。您想了解更多吗？
Correlating the Chemical Composition and Microstructure with Electrical and Optoelectronic Properties
光电设备主要依靠光刺激来产生电脉冲，反之亦然。它们通常用作电子设备中的传感器或探测器。
基于SEM的EDS和EBSD技术是用于研究化学组成和微结构与光学，电气和机械性能的相关性的常见分析工具，并将其归结为纳米级。Bruker的高级解决方案是可以深入了解的WDS，Eds，EBSD和TKD技术to quantitatively measure the phase and orientation distributions. It allows, for instance, to investigate the effect of specific crystal orientation, strain and nature of grain or subgrain boundaries on the optoelectronic properties. In-situ correlation studies can also be conducted with Bruker'sQuantax EBSDandHysitron Pi系列Picoindenters。
