LCD屏幕和光电子学
失效分析
一种CMOS传感器的红外光谱分析
由于现代系统高度小型化并由多种材料组成，因此对光电器件的分析是相当复杂的。bob综合游戏特别是显微镜污染的识别尤其值得关注，因为它们可以引起电子设备的故障。揭示污染的来源，从而允许有效的故障排除是关键应用之一傅立叶变换红外显微镜。
它允许用户获得具有高横向分辨率的非常小的结构的红外光谱，从而揭示样品的确定部分的化学成分。这使得FT-IR成为电子传感器和其他光电子产品质量控制和失效分析不可或缺的工具。它可以帮助描述缺陷、损害、污染和更多。它甚至可以通过表征红外传感器来刺激产品的开发。
质量控制
用拉曼显微镜研究液晶屏内的污染物
显示器、发光二极管、液晶显示器和许多其他光电子部件都是用聚合物层压保护层，或者直接粘在玻璃表面。在这两种情况下，意味着如果材料是透明的，bob综合游戏共焦拉曼显微镜有能力去看吗内部这样的程序集。
通常，非常小的污染物，如颗粒、纤维、灰尘和污垢是这类损害的罪魁祸首。拉曼显微镜不仅可以发现这些微小的杂质，它可以通过化学方法识别它们，帮助发现这些产品缺陷的根本原因。使用它的损害分析:
- 屏幕和LCD组件
- Touchpanels
- 安装传感器
材料研究
用FT-IR表征传感器和探测器
如今，探测器随处可见——在智能手机、温度计、相机、电灯开关和许多其他设备中。但在这些探测器能够在我们的日常生活中开始工作之前，它们必须被彻底地表征和优化。
这就是傅立叶变换红外光谱仪可广泛应用于检测探测器的三个基本参数:
- 响应光谱带宽(UV/VIS/IR等)
- 响应需要辐射功率
- 传感器的响应时间
傅里叶变换红外技术在vcsel人脸识别中的应用
垂直腔面发射激光器(VCSEL)是一种特殊类型的半导体激光二极管，与传统的边缘发射激光器不同，它垂直于芯片表面发射。这使得它们很容易封装为发射器阵列，在一个芯片上有数百个发射器，然后可以放置在智能手机中(例如用于人脸识别)。
在vcsel分析中，傅立叶变换红外光谱已被证明是一种优于辐照度传感器和快速光电二极管的方法。许多优点之一是可以确定发射光谱。目前的研究主要集中在如何刻画vcsel的特征，以支持基础研究中vcsel的理论建模。你想了解更多吗?
化学成分和微结构与电学和光电子性质的关系
光电子器件主要依靠光刺激产生电脉冲，反之亦然。它们通常被用作电子设备中的传感器或探测器。
基于sem的EDS和EBSD技术是常用的分析工具，用于研究化学成分和微观结构与光学、电学和力学性能的相关性，并将其应用到纳米尺度。深入的知识可能与Bruker的先进解决方案WDS, EDS, EBSD和TKD技术定量测量相位和取向分布。例如，它可以研究特定晶体取向、应变和晶粒或亚晶粒边界的性质对光电性能的影响。现场对比研究也可以用Bruker’s进行QUANTAX EBSD和Hysitron PI系列皮压器。
