液晶屏幕和光电子
失效分析
CMOS传感器缺陷的FT-IR显微分析
光电子器件的分析是相当复杂的，因为现代系统是高度微型化和由多种材料组成的。bob综合游戏特别是微观污染的识别是特别有趣的，因为它们可以导致电子设备的故障。揭示污染的来源，从而进行有效的故障排除是该技术的关键应用之一傅立叶变换红外显微镜。
它允许用户获得具有高横向分辨率的非常小结构的红外光谱，从而揭示样品的特定部分的化学组成。这使得FT-IR成为电子传感器和其他光电子的质量控制和故障分析不可或缺的工具。它可以帮助描述缺陷、损坏、污染等。它甚至可以通过表征红外传感器来刺激产品开发。
质量控制
用拉曼显微镜研究液晶面板内的污染物
显示器、led、液晶显示器和更多的光电部件都是用保护层的聚合物层压或简单地粘在玻璃表面。在这两种情况下，如果材料是透明的，bob综合游戏共焦拉曼显微镜有能力去看吗内部这种组装。
通常情况下，颗粒、纤维、灰尘和污垢等非常小的污染物是造成这种损害的罪魁祸首。拉曼显微镜不仅可以发现那些微观杂质，它可以通过化学方法识别它们，帮助发现这些产品缺陷的根本原因。用于损伤分析:
- 屏幕和液晶显示器
- Touchpanels
- 安装的传感器
材料研究
利用FT-IR对传感器和探测器进行表征
如今，探测器无处不在——在智能手机、温度计、相机、电灯开关和许多其他设备中。但在这些探测器开始在我们的日常生活中工作之前，必须对它们进行彻底的特征描述和优化。
这正是在哪里傅立叶变换红外光谱仪可广泛应用，检测探测器的三个基本参数:
- 响应的光谱带宽（UV / VI / IR /等）
- 响应所需的辐射能
- 传感器的响应时间
应用FT-IR在VCSELS开发中的人脸识别
垂直腔面发射激光器(VCSEL)是一种特殊类型的半导体激光二极管，与传统的边缘发射激光器不同，它垂直于芯片表面发射。这使得它们很容易打包成发射器阵列，单个芯片上有数百个发射器，然后可以放置在智能手机中(例如用于人脸识别)。
在vcsel的分析中，傅立叶变换红外光谱与辐照度传感器和快速光电二极管相比，已被证明是一种优越的方法。其中一个优点是可以确定发射光谱。目前，研究的重点是vcsel的表征方法，以支持基础研究中vcsel的理论建模。你想了解更多吗?
用电气和光电性能与化学成分和微观结构相关联
光电设备主要依靠光刺激产生电脉冲，反之亦然。它们通常被用作电子设备中的传感器或探测器。
基于sem的EDS和EBSD技术是常用的分析工具，用于联合研究化学成分和微观结构与光学、电学和力学性能的相关性，甚至在纳米尺度。深入的知识与布鲁克的先进解决方案WDS、EDS、EBSD和TKD技术定量测量相位和方向分布。例如，它允许研究特定晶体取向，谷物或子粒边界对光电性质的影响。原位相关性研究也可以用Bruker进行QUANTAX EBSD和Hysitron PI系列PicoIndenters。
