语言
由于对高密度、高引脚数、小尺寸、堆叠和高性能器件的需求,WLP代表了一个快速增长的细分市场。这种增长带来了新的计量挑战,重新分配和凹凸金属化薄膜堆栈。此外,无铅凸起还需要在线控制材料成分。
Bruker凭借行业领先的小点、高速x射线荧光技术,能够满足这些不断发展的计量需求。
随着焊盘尺寸的减小,焊料的沉积量和空间分布的分析越来越复杂。Micro-XRF允许在几十微米范围内的点状尺寸,以测量焊盘上的焊料成分至30 μ m。当低能线有重叠时,成分的确定是有挑战性的。但微x射线荧光光谱却不能,因为它在确定成分时测量了高能量k线。Bruker独特的微型xrf解决方案允许调查小区域XTrace探测器为扫描电镜,并调查大面积M4龙卷风台式micro-XRF。
在我们的应用笔记中探索更多的应用例子: