工业型原子力显微镜
高效，生产率，全新设计设计
产品
用于纳米尺寸和表征的原子力显微镜
Dimension ®系列原子力显微镜 (AFM) 长期以来在工业生产过程中以其高效、高能而享有盛誉。Dimension HPI 和 PRO 系统专为大批量、生产过程的质量检测而设计，可实现多数 AFM 模式的自动化测量，系统具有易用性和极低的测试成本。提升了质量控制、提高了生产的质量保证和失效分析工作的效率。这些系统使用接触、轻敲和以及峰值力轻敲 (PeakForce tapping®) 技术，使用户能够精确控制探针与样品间的相互作用，延长探针针尖使用寿命，探针寿命可延长到几千次高精度测量。
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