XFlash 6T-100
100mm2椭圆形无窗探测器
用于 STEM 的超大立体角EDS 系统
这一拥有100mm2椭圆形芯片、收集立体角大，无窗型的EDS探测器，具有优化的几何结构，可与所有的TEM型号匹配获得最好的采集效果。
其独特的芯片形状和艺术级的探指纤细化技术使得这款探测器X 射线收集的空间立体角 STEM 中达到≥0.7 sr，检出角达到≥13°，很容易实现原子级mapping及单个杂原子的识别[1, 2]。
[1]Direct atomic scale determination of magnetic ion partition in a room temperature multiferroic material(Open Access)
Scientific Reports 7, (2017) Article number: 1737; Authors: L. Keeney et al.
[2]个人杂原子识别x射线spectroscopy(Open Access)
Applied Physics Letter Volume 108, Issue 16, 163101 (2016); Authors: R. M. Stroud, T. C. Lovejoy, M. Falke, N. D. Bassim, G. J. Corbin, N. Dellby, P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde, and O. L. Krivanek
XFlash®6T-100 椭圆形无窗探测器的优势：
- 100mm2有效晶体面积
- 无窗设计
- 收集立体角≥ 0.7 sr
- 检出角≥13.4°
- 兼容UHV
- X射线shutter
- 无干扰冷却系统
- 优异的低能端性能，很容易对谱峰重叠的轻元素和重元素的低能L、M、N线系进行谱峰剥离
- 与布鲁克强大的分析软件无缝兼容
XFlash®6T-100 椭圆形无窗探测器的优势应用领域：
TEM 、STEM 、球差电镜中的高级元素分析，包括但不限于：
- 原子分辨率的元素表征
- 快速数据采集
- 痕量元素分析