Xflash 6t-100椭圆形
STEM的高收集角度EDS系统
这个大面积，高收集角度，无窗eds具有椭圆形100毫米的检测器2为每个合适的杆片几何形状仔细定制SDD。独特的形状和最先进的细线设计允许在非常特定的改造条件下优化采集几何形状。
证明了X射线收集的实体角度在13°的起飞角度以原子柱元素映射和单个杂原子识别[1,2]的起飞角度达到0.7 SR [1,2]。
[1]直接原子尺度测定室温多效材料中磁离子分区（开放访问）
科学报告7，（2017）文章编号：1737；作者：L。Keeney等。
[2]X射线光谱学的单个杂原子鉴定（开放访问）
Applied Physics Letter第108卷，第163101期，2016年；作者：R。M. Stroud，T。C. Lovejoy，M。Falke，N。D. Bassim，G。J. Corbin，N。Dellby，P。Hrncirik，A。Kaeppel，M。Noack，W。Hahn，W。Hahn，M。Rohde和O. L. Krivanek
总而言之，Xflash®6T-100椭圆形提供以下优势：
- 100毫米2区域，无窗
- 固体收集角度高达0.7 SR，适应性变化
- 起飞角至13.4°，适应性变化
- UHV兼容
- X射线电密快门
- 非交流冷却系统
- 出色的低能量性能，分析光元素和重叠的L-，M-，...低能区域中较高Z元素的线条
- 布鲁克多才多艺的所有优势分析软件
建议的Xflash申请领域®6T-100椭圆形为：
ED在TEM和STEM中进行的高端元素分析，包括校正的电子显微镜，旨在：
- 原子分辨率
- 快速数据采集
- 痕量元素分析